仪器介绍
可进行固体、粉末、液体等多种样品的定性分析和无需工作曲线的FP法定量分析。在成熟的硬件上又增加了新开发的利用高次线进行的定性定量法、250μm给图功能等，进一步提高了可靠性，充实了应用。

技术参数

●分析元素 8O ~ 92U （4Be ~ 7N选配）
●X射线管 4kW薄窗、Rh靶
●分光器 10晶体可交换，5种狭缝可交换，高次线轮廓功能， 超高速分析功能（300°/min）
●小束斑功能 分析直径500μm
●成象功能 表示直径250μm
主要特点

· 在波长色散型装置中，世界首创250μm微区分布成像分析功能（已取得专利） 可分析不均匀样品的含量分布、强度分布。
稀土元素矿石的XRF-1800成像分析实例
· 利用高次谱线进行准确的定性/定量分析（专利申请中） 高次谱线的判定更加准确，提高了定性定量分析的准确度/可靠性。
利用XRF-1800的高次谱线分析刹车片实例
· 测定高分子薄膜的膜厚与无机成分分析的背景基本参数(BG-FP)法 利用康普顿散射/瑞利散射的强度比计算出荧光X射线分析不能得到的氢（H）元素的信息。高分子薄膜分析中，利用康普顿散射线的理论强度作为高分子薄膜的信息。
使用XRF-1800进行的膜厚测定、薄膜测定实例
· 微区分析结构 独自开发的特殊形状的滑动式视野限制光栏，利用r方向滑动与样品旋转控制的q转动，可以在30mm直径内的任意位置进行分析。

· 利用CCD相机可以直接观察样品（选配件） 在测定室导入样品的位置上，将样品容器按照与测定位置相同的方式放置，通过CCD摄取样品的图像，可使测定位置与图像相吻合。（专利申请中）