主要参数

1、测试频率：20Hz～200KHz，度0.02%基本量测准确度：
0.1%

2、3种阻抗输出模式选择，测量结果可与各厂家之LCR表完全对比增强式圈数比

3、准确测量，适用于低磁道率的磁芯

4、提供各种标准测试治具及特殊治具订制四端测试治具，可得到DCR，电感量和圈数比稳定的测量。内建式比较器，10级分类及计数功能（仅适于3252/3302）2M SRAM记忆卡供机台资料设定及备份标准RS～232，HANDLER及PRINER界面50组内部仪器设定可供储存及呼叫

5、测试参数：圈数比（TURN RATIO），相位（PHASE），圈数（TURN），电感（L），品质因子（Q），漏电感（LK），平衡（BALANCE），交流电阻（ACR），电容（CP），直流电阻（DCR），接脚短路（PIN SHORT）

6、测试电压：10MV-10V，10MV/STEP

7、测试频率：20Hz～200KHz/1MHz