薄膜材料磁电阻效应测试仪简介
用巨磁电阻（GMR）（2007年诺贝尔物理学奖）和各向异性磁电阻（AMR）磁性薄膜材料制作的计算机硬盘读出磁头和各种弱磁传感器，已经广泛应用于信息技术、工业控制、航海航天导航等高新技术领域。BKT-1薄膜材料磁电阻效应测试仪系统控制主机是专门为薄膜材料磁电阻测试而设计的，它将多块测量仪表及调节指示集于一体，将复杂的仪表之间连线化为主机内部的PCB板集线控制，将仪表之间信号串扰和外部共模干扰对信号采集处理的影响降到最低，大大提高了仪器测量的精度。高精度的数据采集器通过流行的USB接口与计算机相连极大地方便了用户的使用。通过本实验能够使同学们对磁性薄膜材料的知识和磁电子学有所了解，并由此引起对纳米磁性薄膜材料研究和应用的浓厚兴趣。
l . 用途:
(1)金属、半导体、导电高分子薄膜(或块体)电阻率的测量;
(2)金属薄膜材料电阻率的测量(最大厚度0.2毫米);金属块体材料电阻率的测量(最大厚度3毫米);
(3)磁性合金薄膜的磁电阻测量;
(4)铁磁/非磁性/铁磁三层或多层薄膜的磁电阻测量;
(5)自旋阀型巨磁电阻薄膜、隧道结型巨磁电阻薄膜的磁电阻测量。
2. 仪器组成：
本仪器由样品台、亥姆霍兹线圈、恒流源、磁场扫描电源、直流数字电压表、数据采集卡和计算机数据采集软件组成。采用四探针方法测量电阻率，可以避免电极接触电阻对测量结果的影响。
3.机型配置
BKT-I科研型配置：
（1）Keithley 2182纳伏表（7 1/2、分辨率1nV@10mV、IEEE-488 接口）1块
（2）Keithley 2000多用表（6 1/2、分辨率100nV@10mV、IEEE-488 接口）1块
（3）Model 4001数控恒流源（0.01～50mA）1块
（4）自动扫描电源（0～±8A，扫描周期8～80秒） 1台
（5）霍姆亥兹线圈 （0～±300?Gs）1台
（6）四探针组件
（7）计算机（用户自备） 1台
（8）数据采集软件（IEEE488接口、Windows XP，Windows 7） 1套
本配置仪器精度高、性能稳定，适合于高校和科研院所在科学研究和分析检测中使用。本仪器配置可根据用户需求设计。
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BKT-II教学科研兼容型配置：
（1）主控机（内含可1路调恒流源、2路4 1/2数字电压表和1块USB接口24bit数据采集卡） 1台
（2）自动扫描电源（0～±8A，扫描周期8～80秒） 1台
（3）霍姆亥兹线圈 （0～±160Gs） 1台
（4）四探针组件 1套
（5）计算机（用户自备） 1台
（6）数据采集软件 （24dit精度、USB接口、Windows XP、Wundows7） 1套
本配置仪器精度较高、性能稳定，性价比高，可以满足高校本科生、研究生开设专业实验和科研测试中使用。如用户要求磁场可加至300Gs
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BKT-III教学型配置：
（1）主控机（内含可1路调恒流源、2路4 1/2数字电压表） 1台
（2）可调稳压稳流电源（0 ～5A） 1台
（3）霍姆亥兹线圈 （0～±160Gs） 1台
（4）四探针组件 1套
本配置实验原理清晰直观、性能稳定，适合于高校本科生、研究生开设专业实验中使用
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