Panametrics MG2系列
Panametrics® MG2系列是一些小巧、经济
的超声测厚仪，其主要用户为负责测量有
内部腐蚀的管道、箱罐容器和其它金属构
件的剩余厚度的检测人员和维护工程师。
这些测厚仪具有轻便且符合人体工程学的
单手操作设计，为许多需要对疑为金属壁
变薄的材料所进行的快速检测应用，提供
了性价比极高的测量解决方案。
Olympus是世界著名的创新型、高质量
超声检测仪器的生产商。我们认为我
们的客户应该享用真正具有质量好、
精度高、操作简便且价位适中的测厚
仪。我们生产的3款坚固耐用的测厚仪
可完全满足客户的期望：Panametrics®
MG2型仪器、Panametrics® MG2-XT
型仪器，以及Panametrics® MG2-DL
型仪器。每款仪器都具有许多实用的测量
功能，可解决在厚度测量过程中出现的各
种各样的问题。

可在3种仪器中选择
PANAMETRICS MG2
Panametrics® MG2型测厚仪具有许多基本的功能，如：最小值/最大值模式，以每秒20个读数快速测量和回放最小厚度值；冻结模式，可即刻捕捉关键厚度读数；零位补偿模式，可确保发挥探头的最佳性能。该价格合理的手持式测厚仪还具有其它多种功能，可用于在现场进行的快速测量。
PANAMETRICS MG2-XT
Panametrics® MG2-XT型测厚仪具有与Panametrics MG2型测厚仪相同的功能。该测厚仪由于增加了B扫描、增益调整、自动灵敏度优化、回波到回波、Olympus® THRU-COAT®（穿透镀层）、差值模式、高/低报警、可选动态A扫描等测量功能，可在条件恶劣的应用中发挥更高的效能。这款测厚仪是测量表面涂有镀层或漆层的材料厚度的最理想的仪器。
PANAMETRICS MG2-DL
Panametrics® MG2-DL是MG2系列测厚仪中最先进的一款仪器。该仪器不仅具有Panametrics MG2‑XT型仪器的所有功能，还装有一个基于文件的通用的字母数字数据记录器，可存储增量、顺序、两维及Boiler格式的文件。使用可选的GageView™ Pro接口程序，可以在计算机和测厚仪之间双向传输数据。

THRU-COAT（穿透镀层）
这是一项专利技术：利用单个底面回波，仪器可同时显示镀层厚度和金属的实际厚度。每次测量需根据校准过的材料声速进行调整。Olympus® 的THRU-COAT®（穿透镀层）测量需使用D7906-SM和D7908探头。
可调节波形的实时A扫描
这是一个可选实时A扫描模式：用户可在测厚仪屏幕上直接观察超声信号波形（A扫描）；核查厚度读数；还可手动调整增益和抑制设置，以便在挑战性应用中最大限度地发挥仪器的测量性能。此利于操作的选项具有以下功能：手动增益调整、邻区抑制、回波抑制及延迟。
增益调整
此功能对于测量如铸铁等声波衰减较大的材料非常有效。
• 将增益调整预置为高、低或标准
• 手动增益调整的增量可被设置为1 dB（仅适用于实时A扫描模式）
邻区抑制
可抑制因材料表面粗糙或不规则而引起的噪声回波（仅适用于实时A扫描模式）。
回波到回波
测厚仪利用多重底面回波，显示不计镀层厚度的金属的实际厚度：
• 自动回波到回波
• 手动回波到回波（仅适用于实时A扫描模式）可进行以下操作：
- -增益调整
- -邻区抑制
- -回波抑制
B扫描腐蚀成像
Panametrics MG2-XT型与Panametrics MG2-DL型仪器具有将实时测量的厚度读数转换成横截面图像的B扫描功能。该标准功能在需要察看工件厚度如何根据距离的不同而发生变化的应用中非常有用。在激活B扫描功能后，当探头接触到被测材料时，屏幕上便会出现横截面厚度图像。最小冻结（Freeze Min）功能用于显示扫查区域内的最小厚度。Panametrics MG2-DL型仪器的数据记录器可存储多达1300幅B扫描图像。
高温表面
配用D790系列探头（D790、D790-SM、D790-RL、D790-SL）的Panametrics® MG2-XT型与Panametrics® MG2-DL型测厚仪，是稳定测量表面温度高达500ºC的材料厚度的理想仪器。MG2系列仪器的零位补偿功能通过补偿因热漂移引起的探头延迟线在温度上的变化，增加了在高温表面进行材料厚度测量的精确性。

测量
测量模式：使用双晶探头的脉冲回波法
厚度测量范围：0.50 mm～635.00 mm，
厚度测量范围取决于材料、探头、表面条
件和温度。
材料声速校准范围：
0.508 mm/μs～18.699 mm/μs
显示模式
• 厚度的数字式读出形式
• 显示横截面图像的B扫描
• 实时A扫描或称波形图（可选）
• dB栅格（Panametrics MG2-DL型）
厚度显示分辨率：
低：0.1 mm
标准：0.01 mm
测量速率：
标准：每秒钟4次测量。
快速：每秒钟20次测量。
最小值/最大值模式：在每秒钟20次测量的速
率下，测量和回放最小或最大厚度值。
冻结模式：冻结图像，以瞬时捕获关键厚度
值。最小化探头的耦合提离误差，易于高温
测量。
自动探头识别：自动识别列表中的
Panametrics® 探头类型。调整内部参数，并校
正V形声程误差。
零位补偿：补偿探头温度和零位偏移。
显示
显示保持/空白模式：保持或清除测量后的显
示视图。
场致发光背光显示：可选“开启”或者“自
动开启”。
接收器带宽：1 MHz～18 MHz（–3 dB）
公制/美制单位模式：毫米或者英寸。
显示语言：英语、法语、德语、西班牙语、意
大利语及其它自定义语言。
电源供应
电池：3节AA碱性电池。
工作时间：电池供电时间一般为150小时；如
使用背光，可连续供电30 个小时。
低电量显示器：持续显示电池的电量状态。
省电模式：自动电源关闭/持续开启。
一般规格
符合IP65标准：防溅、防撞击机壳。密封、以
颜色区分功能的键盘，带触感及声音反馈。
危险区域操作：可在美军标准MIL-STD-
810E，方法511.3，程序1所规定的环境中操
作。
工作温度范围：
–10 °C～50 °C
外型尺寸（宽 x 高 x 厚）：
84.0 mm x 152.4 mm x 39.6 mm
重量：340 g
MG2-XT与MG2-DL的特殊技术规
格
Olympus® THRU-COAT®（穿透镀层）测量：
利用单个底面回波（使用D7906-SM和D7908
探头），测量镀层厚度和金属的实际厚度。
穿透漆层回波到回波：利用多重底面回波，不
计涂层厚度，显示金属的真实厚度值。
• 自动回波到回波
• 手动回波到回波（仅适用于实时A扫描
模式），可进行：
-- 增益调整
-- 邻区抑制
-- 回波抑制
增益调整：
• 为增益调整预设高、低或标准增量。
• 手动增益调整的增量可被设为1 dB
（仅适用于实时A扫描模式）。
邻区抑制：可抑制由于材料表面粗糙或不规则
而造成的噪声回波（仅适用于A扫描模式）。
自动灵敏度增益优化：可根据厚度和材料的噪
声水平，自动提高或降低正常测量的灵敏度。
报警模式：可编程的高/低设置点，带视听指
示器。
差值模式：显示实际厚度测量值与自定义参考
值之间的差值。
带有波形调节的实时A扫描：用户使用可选的
实时A扫描模式功能，可以直接在仪器的视图
中查看超声波形（或A扫描）。该模式包括以
下功能：手动增益调整、邻区抑制、回波抑
制、延迟。
PANAMETRICS MG2-DL内置数据记
录器
数据记录器：Panameterics® MG2-DL型仪器
通过USB端口，可以识别、存储、回放、清除
及传输厚度测量读数和仪器的配置信息。
最大存储量：可存储多达31000个厚度测量读
数，或1300个带有厚度测量的波形（带有波
形选项）。
存储的数据文件：每个被存储的厚度读数，连
同测量状态标记及可识别声速、探头等参数的
设置编码，都被归档。
文件名长度：8位字母数字字符。
标识码：10位字母数字标识码系统，可识别
或定位所存储的数据。
文件模版：增量型、顺序型、2维栅
格、Boiler及PC中的自定义文件模版。
标准配置
MG2型数字超声测厚仪、手腕带、测试棒、
耦合剂、用户手册、塑料携带箱（仅指
Panametrics MG2-XT型和Panametrics MG2-
DL型仪器）、2年有限担保。标准配置还包括
一个双晶探头。
选购附件
2214E：5阶梯试块，美制单位。
2214M：5阶梯试块，公制单位。
MG/EW：延长担保。
MG2/RPC：橡胶保护套。
GageView：用于Panametrics MG2-DL的PC
机接口程序。
MG2/XTRETRO：
将Panametrics MG2型转换为
Panametrics MG2-XT型的转换器。
MG2XT/DLRETRO：
将Panametrics MG2-XT转换为
Panametrics MG2-DL型的转换器。
MG2/DLRETRO：
将Panametrics MG2型转换为
Panametrics MG2-DL型的转换器。
MG2/WF：带有波形调节的实时A扫描
仅用于Panametrics MG2-XT型与Panametrics
MG2-DL型仪器（不适用于
Panametrics MG2型仪器）。
USB/ADP-115：AC-115电源供应
USB/ADP-230：AC-230电源供应
欲查询其它有关支架、连接杆及耦合剂的
信息，请与我公司联系。