满足条件GJB150.5
设备环境试验方法：温度冲击试验用途及特点1、广泛用于半导体、电子零部件、电子集成线路板、化学金属材料等行业测试。
2、采用三箱冲击法，测试品可静止不动，避免了试件移动带来的诸多不便。
3、试验箱分低温畜冷区、高温畜热区和实验区，低温冲击时，打开低温室风门，与低温室形成低温内循环，高温冲击时，打开高位室风门，与高温室形成高温内循环，如有需还可以与环境温度连通，形成三箱法试验。
4、配进口触摸式可编程温控仪，中文液晶显示，记录实验曲线，并可与计算机连接，制冷系统采用进口风冷或水冷压缩机。
5、工作室为不锈钢板制成，外壳冷轧板静电喷涂。技术参数产品名称型号工作室尺寸（mm）深×宽×高温度范围其它技术参数高低温冲击试验箱GDC4005350×360×400冲击温度：-20℃～ 150℃温度波动度：≤±0.5℃温度均匀度：≤±2℃恢复时间：≤5minGDC4010450×450×500GDC6005350×360×400冲击温度：-40℃～ 150℃GDC6010450×450×500