上市时间：2009年1月创新点相比上一代产品，TRISTAR II3020有以下新的技术网络化管理，TRISTAR II3020与计算机的连接全部采用以太网接口，方便用户进行网络化控制新增的微孔分析系统，使得3020具备了微孔分析能力。在外观上突出了小巧灵活性，便于用户灵活掌握。在传感器测量上，选用了改良的传感器系统，配备了高达5个（微孔单元6个）压力传感器，使得仪器各部分的配合更灵活。 技术参数比表面测量范围为氮气吸附/g至无上限，氪气吸附/g至无上限孔径分析范围：埃～5000埃，测量5点BET比表面仅需20分钟。重复性优于1％。真正的三站同时测量。每个分析站均有独立的高精度压力传感器。新的软件字幕，以太网口连接主机和电脑的通讯数据线，内置电子检测点和强大的仪器自诊断功能可升级至微孔单元，选配的分子涡轮泵和10mmHg高精度压力传感器多种样品制备系统可选。·主要特点·  分析方法包括
♦全吸附、脱附曲线（吸附脱附曲线都做到1000个测量点）
单点或多点BET比表面积
♦Langmuir比表面
♦平均孔尺寸和单点总孔体积
♦BJH吸附/脱附曲线，中孔、大孔信息
（体积、面积分布） 
♦Harkins Jura厚度层公式 
♦Halsey厚度层公式
♦中孔和大孔体积、面积对孔径分布
♦NLDFT非定域密度函数理论
♦总孔体积♦Validation reports
♦专为企业服务的SPC（Statistical Process Control统计过程控制）报告。
♦ Dollimore-Heal adsorption and desorption
♦ Kruk-Jaroniec-Sayari correction
♦de Boer t-plot（数据处理微孔体积和表面积，厚度公式）
♦αs－plot ♦f-ratio
♦MP法，Harkins Jura厚度层公式，Halsey厚度层公式， 
♦Kruk-Jaroniec-Sayari correction
♦STSA碳黑外比表面
♦DFT和比表面能分布(密度函数理论)
♦summary report总结报告仪器介绍TriStar II3020新一代全自动比表面积和孔隙度分析仪,可同时进行三个样品的分析从而提高分析效率，提供全吸附、脱附曲线、BET及 Langmuir比表面、平均孔尺寸和单点总孔体积、BJH中孔、大孔体积、面积分布、总孔体积、de Boer t-plot数据处理微孔体积和表面积，厚度公式、αs-plot和f-ratio 法、MP法。  
 歧管和三个样品分析站分别配有独立的传感器，可以同时精确的测量三个样品，PO管同样拥有独立的压力传感器。 
 软件配备自检系统，方便用户自行检测仪器
选配的分子涡轮泵以及10mmHg可以将仪器升级到微孔单元。