商品名称 ：SM-B500晶体管测试系统
SM-B500晶体管测试系统
由SJ/T10415设计制造，采用先进的微机控制技术，在测试中能对测试条件自行设定，测试果自动分档，自动统计SM-8500晶体管测试系统是按国际有关晶体管测试原理和实验方式标GB4587、GB12300、GJB128A及行业标准及自动加功率（加温）测试。其测试击穿电压可达100V，IC测试电流可达20A。系统还能测定Bvceo、Bvcbo的软硬件穿特性及HFE的线性度K，对HFE、Vces和Bvceo等主要参数可用三个不同测试条件一次性完成测试。本系统还可以测试晶体管重要的最大额定电流指标参数IC及Cbe、Rth等稳压管本系统，充分考虑了器件生产企业的要求、实现高稳定、高速度、高静度三大特点，一台测试系统可以同时连接3台机械手工作，是一台功能强大的晶体管综合测试系统。
工作原理
系统由微机控制程控电压源、程控电压源，取样电路和切换电路组成。微机根据设定条件自动调整控源，施加于被测晶体管。再由采样电路采样，经A/D转换于微机显示。
使用条件
温度：10-30℃ 相对湿度：20%-75%RH（30℃时） 大气压力：86-106Kpa
工作电源：220V±10%AC，50Hz V±10%周围无强电源干扰。
技术指标
| | 电源 | 电流 |
程控电压/电流III（PMU2）精度±0.1% | 0-20.000V 16位D/A转换16位A/D采样,量程自动切换 | ±0-2.0000A16位D/A转换16位A/C采样,量程自动切换 |
程控电压/电流III（DPS）精度±0.5% | 0-30.00V 12位D/A转换,16A/D采样,量程自动切换 | 0-20.00A 12位D/A转换,16A/D采样,量程自动切换 |
程控高压源（DPS）精度±0.5% | 20-100V 12位D/A转换,16A/D采样,量程自动切换 | 20-100mA
12位D/A转换,16A/D采样,量程自动切换 |
测试项目 | 测试条件 | 测试范围 | 精度 |
击穿电流 | IC(IR)<20ma,Ib<50Ma | 0-1000V | <±(1%+1digit) |
漏电流 | VobVoeVr:0-1000V,Veb<,Vr:0-10000V,Veb≤20v | 0.01Ua-10Ma | ±(1%+1digit) |
HFE | IC≤20A，Vce=1-30V,1b=1μA-2A | ≥3 | <±(1%+1digit) |
Vbe VF | le(IF)≤1.0000A | 0-20.000V | <±(1%+1digit) |
Vces Vbes Vbef Vdf Vtm | IC≤20A 1b≤1.0A Vce=1-30V | 0-30.000V | <±(1%+1digit) |
△Vbe △icbo △HFE | 1W-100W IC(le)≤5A ls≤0-100mA | TP=0-1000ms Td=100-300us | <±(1%+1digit) |
