涂层测厚仪,涂渡层测厚仪,镀层测厚仪,测厚计,膜厚仪,膜厚计
简捷涂层厚度测量!
无损测量,极其!
Phase II PTG-3550涂层测厚仪可以利用涡流和电磁感应两种不同的方法进行厚度测量。
用此先进的厚度测量仪,利用其一个内置探头或我们提供的一个自动探测的外接探头,您可以方便的测量磁性基体(金属)上非磁性涂层的厚度或非磁性导电基体(非金属)上非导电涂层的厚度。
Phase II PTG-3550可被用于很多行业领域包括制造业,通用机械工业,商检等。
主要技术信息
测量范围:0-1250µ m最大
分辨率: 0.1µ m(0-99µ m)或1µ m (大于 100µ m)
度: 一点校准后: +/- 1-3%n 或 2µ m
显示屏:4位
最小测量范围: 5mm x 5mm
最小曲率半径: 3mm
凹深:30mm
最小基体厚度:金属: 0.5mm
非金属: 50 µ m
校准:零点校准
箔校准
被测物体最大表面温度:150℃(最长接触时间为2秒)
电源:4节AA电池
外形尺寸: 161 x 69 x 32mm
重量:260g
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PTG-3550使用了一个内置探头可以自动测量金属或非金属基体并且带有2个标准基体(钢,铝),4个校准过的厚度试片,手提箱,电池和操作手册。
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