产品名称：SH.9-ST-82数字式四探针测试仪 
 
产品说明:
 
特点：
采用四探针测试技术，宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针，定位准确，测量方便，精确，游移率小，寿命长，可测量片状、块状等半导体材料及径向、轴向的电阻率和扩散层的薄层电阻、方块电阻；对薄膜等材料的电阻率也可精确测量

主要技术性能：
测量范围：
电阻率：10-4－103Ω/cm
电阻：10－6－105Ω
方块电阻：10－3－104Ω/□
恒流源：10μA-100mA（五档）
精度：≤±0.5%±2个字
分辨力：0.1μV
功耗：12W（约）
外形尺寸：400*120*400mm
净重：15千克