| 简介 |
产品特点
·显示半导体器件的各种特性曲线
·测量半导体器件的静态参数
·能在不损坏器件的情况下，测量半导体器件的极限参数
·晶体管双簇显示
集电极电流范围 10μA/p～0.5A/p,分15档，误差不超过±3% 50μA/p～2A/p,分15档，误差不超过±3%
二极管反向漏电流 0.2μA/p～5A/p,分15档 0.5μA/p～20A/p,分6档
集电极电压范围 0.05V～0.5V/p,分10档，误差不超过±3%
0.05V～500V/p,分13档，误差不超过±3% 0.05V～500V/p,分10档，误差不超过±3%
基极电压范围 0.1V/p～5V/p,分6档，误差不超过±3% 0.05V/p～2V/p,分6档，误差不超过±3%
阶梯电流范围 0.1μA/级～100mA/级,分19档 0.5μA/级～200mA/级,分18档差不超过±5%
阶梯电压范围 0.1V/级～2V/级,分5档，误差不超过±5% 0.1V/级～2V/级,分5档 差不超过±3%
外形尺寸及质量 320H×240W×420(mm) 约16kg 340H×250W×420(mm) 约18kg |
