NSG3040综合发生器
型号：NSG3040
EMC雷击浪涌|群脉冲|电压跌落综合测试仪|测试系统，用于CE应用的灵巧型4kV解决方案，
推出的NSG3040是Teseq公司新推出的一台用于在抗扰度测试中模拟电磁干扰影响的发生器，它操作简便、具有多种功能，满足企业、国内和国际标准的要求（包括最新的EC/EN标准）。NSG3040采用了新的Teseq设计理念，使得特测的多功能发生器产品系列更加完整。
TESEQ（特测）NSG3040雷击浪涌|群脉冲|电压跌落综合发生器NSG3040系统设计于满足用于CE标志测试的传导EMC测试需要，它一般包括组合波、EFT脉冲和PQT。强大的扩展能力使得该系统具有更广泛的应用范围。
TESEQ（特测）NSG3040雷击浪涌|群脉冲|电压跌落综合发生器成熟、独特的“主—从”概念技术使得单个脉冲模块能够独立校准，并将校准资料和修正系数存储于从控制器上。新模块安装简便，无需返回整个系统进行校准。由于采用技术先进的组件，NSG 3040在开关切换技术和相位精度方面建立了新的标准，并且超越了现行标准的要求。因为采用了具有高质、对比度极佳的大型7”彩色触摸板显示，NSG3040的操作非常简便。既可以通过一体化键盘也可以用带有灵敏度调整键的滚轮来进行输入。此外，在开发环境下，通过内置的DTA功能（直接测试程序调用），几个“点击”就能激活标准测试，并能迅速、准确地得到结论性结果。
TESEQ（特测）NSG3040雷击浪涌|群脉冲|电压跌落综合发生器各参数值均为高度可视的，通过大的触摸输入键可以迅速选择并修改这些参数值。该操作不需要触控笔，测试参数可以迅速、简便地编辑出来。可以简便地进行多步骤测试程序的增加、程序次序及参数值的修改。选择“高级模式”后，用户可以在测试中使用滚轮进行手动参数修改—有效、迅速地简化激活关键阈值的方法。通过易操作的SD读卡器可进行固件快速下载。可以完整的保存由用户指定的测试。在存储空间不够的特殊情况下，可用市场购买的SD记忆卡更换该记忆卡，而存放其中的测试文件可被轻松复制进更大内存的SD卡中。
NSG3040具有以太网端口，可接受来自个人电脑的外部控制。Windows软件简化了测试程序并允许为各种类型的测试编写复杂的测试序列。TESEQ（特测）NSG3040雷击浪涌|群脉冲|电压跌落综合发生器在测试进程中，操作人员可以进行观察并在测试操作中生成测试报告，以此增加长期测试的效率。
组合波脉冲1, 2/50 ~ 8/20MS(组合浪涌脉冲)
脉冲符合EC/EN 61000-4-5标准
参数/值
脉冲电压（开路）： +200 V至4.4 kV（以1 V为步长）
脉冲电流（短路）： +100 A至2.2 kA
阻抗： 2/12 Ω
极性： 正/负/交替
脉冲重复周期： 10 s至600 s（以1 s为步长）
测试时间 ： 1至9999个脉冲，不间断
相位同步： 异步、同步0至359°（以1°为步长）
耦合： 外部/内部
脉冲群(EFT)5/50 ns 脉冲符合EC/EN 61000-4-4标准 参数/值 脉冲幅度： +200 V至4.8 kV（以1 V为步长）—开路 +100 V至2.4 kV（50 Ω匹配系统） 脉冲群频率： 100 Hz至1000 kHz 极性： 正/负/交替 重复时间： 1 ms至4200 s (70 min) 脉冲群时间： 1 us至1999 s，单脉冲，不间断 测试时间： 1 s至1000 h 相位同步： 异步、同步0至359°(以1°为步长) 耦合： 外部/内部 电压暂降&电压跌落 符合EC/EN 61000-4-11标准 参数/值 电压暂降&电压跌落： 从EUT输入电压跌至0 V、0% 带有可选自耦变压器的Uvar： 取决于型号（VAR 650x） 带有步进式变压器的Uvar： 0、40、70、80% (INA650x) 峰值冲击电流能力： 500 A (230V时) 开关时间： 1至5 MS（100 0负载） 周期时间： 20 us至1999 s、循环1至99’999次 测试时间： 1 s至70’000 min，1至99’999个周期，不间断 重复时间： 40 MS至35 min、循环1至99999次 相位同步： 异步、同步0―359°（以1°为步长）
尺寸/重量
NSG3040的尺寸： 449 (17.7”) x 226 (8.9”; 5 HU) x 565 mm (22.2”), W x H x D
NSG3040的重量： 约25 kg（55 lbs）
可选项
CDN 8014/8015 脉冲群用容性耦合钳
CDN 163 脉冲群耦合网络，每相 100 A（所有线路与参考地耦合）
CDN 117/118 用于信号线和数据线的耦合网络（浪涌）
CAS 3025 脉冲群/EFT检查装置
MD 200 电压差分探头7 kV
MD 300 电流探头5 kA
