更宽视野，更快检测 —— 高效率的检验系统

德国，韦茨拉尔 (Wetzlar)。半导体行业的晶片检验、过程控制和缺陷分析都必须快速、精确及符合人机工程学。徕卡显微系统有限公司最近推出了符合这些要求的最新系列产品，即：适用于 8 英寸晶体的 Leica DM8000 M 和适用于 12 英寸晶体的 Leica DM12000 M。

宏观模式下优化的视野

徕卡DM8000 M金相显微镜和 DM12000 M 光学检验显微镜集成的宏观模式使它们可以提供 4 倍于常规扫描物镜的视场。因此，用户可以对整个扫描区域进行精确的缺陷检测。

LED 照明，工作环境更清晰

Leica DM8000 M 和 DM12000 M 显微镜的 LED 照明集成在它们的支架中。由于没有附带灯箱的干扰，显微镜四周的气流环境极佳。此外，集成在 Leica DM8000 M 和 DM12000 M 显微镜中的现代 LED 设备还具有使用寿命长，耗电量低的优点，从而令这两款显微镜都更加经济环保。LED 设备不仅提供可见光照明，还具备选装的 i 谱线紫外线照明功能。

各角度的超高分辨率

全新的斜射紫外线模式结合了斜射照明和 i 谱线紫外线照明，从而实现了以 3D 或超高分辨率模式对样品各个角度进行快速简易的照明。

舒适的工作环境，带来更高的品质

由于舒适工作环境下的效率更高，从而产品质量也更高，因此控制过程的设计达到了最高的人机工程学标准。照明设备全部集成在显微镜支架中且便于控制，因此客户无须将眼睛和手移开显微镜即可调节至其它的观察方法或照明模式。检验系统配备独立的可调节抬高模块和聚焦手柄，从而适合所有用户使用。它的焦点寻像器、存储功能、以及内置照明器和相衬管理器使得操作更加简便，并且避免了错误的发生。

系统集成：完全匹配的组件

徕卡显微系统有限公司提供的 徕卡DM8000 M金相显微镜 和 DM12000 M 显微镜系统完美地全套集成了显微镜、摄像头和软件。该系统还可以进行升级以适应特别检验、查看软件选项、以及连接到若干品牌的晶片载入器上。