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一、概述
本仪器采用涡流测厚方法，可无损伤地检测非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆层的厚度（如：橡胶、油漆、塑料、阳极氧化膜等）。本仪器广泛地应用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。
1）本仪器符合以下标准
GB/T 4957-1985 非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量（涡流方法）
特点
便携设计，手掌大小
采用高速的DSP芯片，具有快速的测量能力
人性化设计，简单操作。
在双用探头时自动识别铁基和非铁基材质，无需手动转换
两种校准方式，零点校准和二点校准
宽角度LCD液晶显示
公制和英制单位转换
具有电源欠电压提示
操作过程有蜂鸣声提示
具有自动关机功能
测量原理
涡流法
利用高频交变电流线圈中产生一磁场，当测头与金属接触时，金属基体上会产生涡流，并对测头具有反馈作用，通过其反馈作用的大小可测出覆层厚度。
二、显示说明
● μm/mil 测量单位
● CAL 校准提示
● Fe 表示磁性基体测量状态
NFe 表示非磁性基体测量状态
● 8.8.8.8 测量厚度显示区
● 电源欠电压提示
三、使用说明
1）开机
按下ON键后仪器听到一声鸣响，屏幕上显示仪器编号GO8100。自动恢复上次关机前的参数设置后，将显示0，仪器进入待测状态。可测量工件了。经过一段时间不使用仪器将自动关机。
2）测量
仪器会自动感应被测基体：感应到是磁性基体时仪器显示Fe；感应到是非磁性金属是仪器显示NFe。测量时请始终保持仪器处于垂直状态！
3）零位校准
在待测状态下将探头垂直压在基准块上，之后屏幕上会显示<╳.╳μm>，然后按下“ZERO”键进行零位校准。在上述过程中探头一直压在基体上，直到屏幕显示（0 CAL）后才能提起探头。重复零校准可获得更为精确的零点。
注：因我们提供的Fe片和Al片的材质与贵司的基材不完全相同即零位并不一样，因此最科学的方法是在贵司实际工件光洁底材上做零位校准！
4）两点校准
4.1 先校准零位。方法同零位校准。
4.2 将标准膜块方在基准块上，用仪器测出其值。若显示屏上测量值与标准膜片不同，则可使用▲、▼来修正读值，使其达到标准。校准完成，可以开始测量。用▲、▼来修正读值时请提起探头
四、技术参数
● 测量范围：0-1250um
● 工作电源：两节五号电池
● 测量精度误差：零点校准 ±（1.5+3%H）；二点校准±【（1%～3%H）】H+1.5
● 环境温度0-40℃
● 相对湿度≤85%
● 最小基体10*10mm
● 最小曲率凸5mm;凹5mm
● 最薄基体：0.4mm
● 重量：99克（含电池）
● 尺寸102mm*66mm*24mm
五、测量时注意事项
a)基体金属特性
对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。
b)基体金属厚度：检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，进行校准后，可以测量。
c)边缘效应：不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。
d)曲率：不应在试件的弯曲表面上测量。
e)读数次数：通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。
f)表面清洁度：测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。
g)磁场：周围各种电气设备所产生的磁场会严重干扰磁性测厚工作
h)测头取向：测头的放置方式对测量有影响，在测量时应该与工件保持垂直
六、仪器型号说明
一体式
七、使用操作步骤：
1、同时按住“▲”和“ON”键；
2、放开“ON”键；
3、待屏幕上会出现 “O”时再松开“▲”，屏幕便显示FE,仪器进入测头选择状态；
4、每按“▲”键一次可选择一次，可依次选择磁性/铁基型（屏幕显示Fe）、涡流/非铁型（屏幕显示NFe）、 两用自动型（屏幕显示Fe NFe）。
5、按“ZERO”键确认所选测头状态。仪器复位后进入所选测头状态进行测量。
八、保养与故障处理
1）环境要求
严格避强磁场、油污、重尘、潮湿、重撞。
2)更换电池
仪器长期不使用时应取出电池。当仪器出现低电压提示时应更换电池，更换电池时请注意极性。请使用正规厂家生产的优质电池，可以避免因电池漏液而导致机器故障。
3）故障排除
出现较大误差（如：校准不当或有操作错误等）时可按以下步骤恢复出厂设置。
先同时按住 “ON”和“μm/mil”键，先放开 “ON”键，然后放开“μm/mil”屏幕显示“8888”时，再按“ON”恢复出厂设置成功，仪器正常使用。
按下ON键后仪器听到一声鸣响，屏幕上显示仪器编号GO8100。自动恢复上次关机前的参数设置后，将显示0，仪器进入待测状态。可测量工件了。经过一段时间不使用仪器将自动关机。
2）测量
仪器会自动感应被测基体：感应到是磁性基体时仪器显示Fe；感应到是非磁性金属是仪器显示NFe。测量时请始终保持仪器处于垂直状态！
3）零位校准
在待测状态下将探头垂直压在基准块上，之后屏幕上会显示<╳.╳μm>，然后按下“ZERO”键进行零位校准。在上述过程中探头一直压在基体上，直到屏幕显示（0 CAL）后才能提起探头。重复零校准可获得更为精确的零点。
注：因我们提供的Fe片和Al片的材质与贵司的基材不完全相同即零位并不一样，因此最科学的方法是在贵司实际工件光洁底材上做零位校准！
4）两点校准
4.1 先校准零位。方法同零位校准。
4.2 将标准膜块方在基准块上，用仪器测出其值。若显示屏上测量值与标准膜片不同，则可使用▲、▼来修正读值，使其达到标准。校准完成，可以开始测量。用▲、▼来修正读值时请提起探头
四、技术参数
● 测量范围：0-1250um
● 工作电源：两节五号电池
● 测量精度误差：零点校准 ±（1.5+3%H）；二点校准±【（1%～3%H）】H+1.5
● 环境温度0-40℃
● 相对湿度≤85%
● 最小基体10*10mm
● 最小曲率凸5mm;凹5mm
● 最薄基体：0.4mm
● 重量：99克（含电池）
● 尺寸102mm*66mm*24mm
五、测量时注意事项
a)基体金属特性
对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。
b)基体金属厚度：检查基体金属厚度是否超过临界厚度，如果没有，进行校准后，可以测量。
c)边缘效应：不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。
d)曲率：不应在试件的弯曲表面上测量。
e)读数次数：通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。
f)表面清洁度：测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。
g)磁场：周围各种电气设备所产生的磁场会严重干扰磁性测厚工作
h)测头取向：测头的放置方式对测量有影响，在测量时应该与工件保持垂直
六、仪器型号说明
一体式
七、使用操作步骤：
1、同时按住“▲”和“ON”键；
2、放开“ON”键；
3、待屏幕上会出现 “O”时再松开“▲”，屏幕便显示FE,仪器进入测头选择状态；
4、每按“▲”键一次可选择一次，可依次选择磁性/铁基型（屏幕显示Fe）、涡流/非铁型（屏幕显示NFe）、 两用自动型（屏幕显示Fe NFe）。
5、按“ZERO”键确认所选测头状态。仪器复位后进入所选测头状态进行测量。
八、保养与故障处理
1）环境要求
严格避强磁场、油污、重尘、潮湿、重撞。
2)更换电池
仪器长期不使用时应取出电池。当仪器出现低电压提示时应更换电池，更换电池时请注意极性。请使用正规厂家生产的优质电池，可以避免因电池漏液而导致机器故障。
3）故障排除
出现较大误差（如：校准不当或有操作错误等）时可按以下步骤恢复出厂设置。
先同时按住 “ON”和“μm/mil”键，先放开 “ON”键，然后放开“μm/mil”屏幕显示“8888”时，再按“ON”恢复出厂设置成功，仪器正常使用。
