| 产品说明 | 德国菲尼克斯PHYNIX Surfix PBF内置探头铁基基本型测厚仪 膜厚仪 膜厚计 |
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德国菲尼克斯PHYNIX Surfix PBF内置探头铁基基本型测厚仪 膜厚仪 膜厚计 1.德国PHYNIX公司制造 2.基本型,碳化钨超耐磨测头,特快反应速度,一体测头 3.可测铁基体上涂镀层 4.量程1500μm,精度±1μm+1%读数 5.分辨率0.1μm.背景光
技术参数:
测量范围 | 0-1500µm,0 - 60mils | 误差 | ±(1µm+1%读数) | 分辨率 | 0.1µm或小于读数的2% | 显示 | 背光,字母加数字,10mm高,4位数字显示 | 基体最小面积 | 5mmX5mm | 基体最小曲率 | 凸面:1.5mm 凹面:50mm | 基体最小厚度 | F型:0.5mm ,N型:50µm | 校准 | 厂家校准,零校准,校准箔校准 | 数据统计(仅限统计型) | 读数个数(最多9999个),平均值,标准偏差,最大值和最小值 | 数据存储(仅限统计型) | 最多80个测量数值,可单独调出 | 数据值(仅限统计型) | 上下限可调,声音报警 | 数据接口 | 红外通讯,IrDA标准 | 环境温度/表面温度 | 0-50℃/60℃ (可选配150℃ ) | 电源 | 2节1.5伏七号碱性电池 | 仪器尺寸 | 107X50X25mm | 符合标准 | DIN,ISO,ASTM,BS | 操作语言 | 英语、德语或法语 |
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