【el测试仪价格、EL硅片缺陷测试仪】价格_厂家

EL硅片缺陷测试仪简介:光伏组件质量日益成为人们关注的焦点。太阳电池的切片、扩散、焊接、层压、和装框等工艺都可能造成内部缺陷，如裂纹、断栅、黑片、碎片、电阻率不均匀等。这些肉眼看不见的缺陷将会影响转换效率，降低可靠性，缩短使用寿命，降低品质质量。中心自主研发的太阳电池红外检测技术可以方便快捷地检测出上述缺陷，具有灵敏度高、检测速度快、结果形象等优点，是提升光伏组件品质的关键设备。在线式设计具有自动化程度高等特点。红外检测可以全面掌握太阳电池内部问题，为改进生产工艺提供依据，提升产品质量，可以对问题组件进行及时返修，降低损失。此项技术已经获得国家专利保护，一项发明专利和实用新型专利已经获得授权，多项专利正在受理中。

EL硅片缺陷测试仪设备：

1) 针对微裂纹、碎片、断栅、虚焊、波纹等缺陷

2) 红外成像技术、超高分辨率

3) 高速检测：3s-8s；

4) 最大测试面积：2m×1.6m

5) 灵敏度：小于0.2um;

6) 具有图象自动识别功能；

7) 在线式设计；

8) 软件不断升级

武汉三工生产EL硅片缺陷测试仪。咨询电话：联系人:王丹丹手机:15671696592 电话027-59722666-8012 QQ: 1316003860三工光电在全国各地设有40多个代理商和办事处，产品在满足国内市场的同时还出口美国、日本、韩国、印度、巴基斯坦、俄罗斯、法国、波兰、苏丹及东南亚、台湾、香港等25个国家和地区。

EL硅片缺陷测试仪工作原理:
电致发光亮度正比于少子扩散长度：
对太阳能电池加载电压后，使之发光，再利用红外成像仪摄取其发光影像，因电致发光亮度正比于少子扩散长度，缺陷处因具有较低的少子扩散长度而发出较弱的光，从而形成较暗的影像。
有效定位缺陷类型：
通过对产品缺陷图像的观察，可以有效的发现硅片、扩散、刻蚀、印刷、烧结等工艺过程存在的问题。

EL硅片缺陷测试仪主要用途:太阳能电池在加工过程中，因为采用百微米级的晶硅片为载体，极易产生以下几种肉眼难以看见的缺陷：印刷缺陷、烧结缺陷、加工隐裂、材料缺陷、表面漏电。

EL硅片缺陷测试仪技术参数：

型号规格：EL140S-M

品牌：三工光电

传感器型号   逐色扫描黑白（单色）CCD
传感器尺寸    2/3英寸
分辨率      140万像素或600万像素或1200万像素或1600万像素（可选配）
图像范围     10.2mm（H）×8.3mm(V)
像素尺寸     6.45×6.45μm
快门类型     全局快门（ERS）
最大帧       1-10fps
PC接口       USB2.0标准接口
输出格式     10-位/像素
镜头卡口     C-卡口
外壳         氧化铝
功率要求     USB总线供电
工作温度     5°C-30°C
工作湿度     30%-90%