人性化分析界面使日常分析更为简单

AXXIS XEA 分析软件基于强大的功能性和方便的使用性。特别适合非技术背景的操作人员。日常分析只需通过以下简单步骤即可完成：

1、选择样品位置并输入样品名称

2、选择分析方法

3、点击开始

分析软件功能完善，界面精致、简洁，用户操作、使用方便。

AXXIS® XEA 620
X荧光金属成分分析仪技术规格

检测器

·高性能的大面积硅漂移（SDD）检测器

·皮尔贴（Peltier）电子制冷

·提供大的有效探测面积

·实现光谱分辨率和高计数率的最佳匹配

激励源

·钯（Pd）阳极X射线管

·最大功率50W，最高电压50kV

·二次靶标准配置为4个，对应于不同应用， 以获得最佳的样品激发

·第5个二次靶是选购配置，用于对Na、Mg元素获得最佳分析结果

样品池

·样品池可分析大块样品，直径38 cm，深10 cm

·标准配置，15位自动换样器（样杯直径32 mm）

·标准配置，10位自动换样器（样杯直径35-40 mm）

·选购件，9位自动旋转换样器，每个样品独立旋转，用于非均匀样品分析

·对于不同类型的样品可以选择在大气环境下分析，也可以冲氦或抽真空

X荧光金属分析仪仪器主机参数

·单项AC 100/220V，15/7A（50/60Hz）

·选配 UPS电源确保电压稳定

·尺寸：60（W）X60（D）X40（H）

·重量：80 kg（127磅）

选购件

·第5个二次靶，用于对Na、Mg元素的最佳激发和分析

·9位自动换样器，具有样品旋转功能

·冲氦装置，用于液体、粉末样品的分析

·真空系统，用于固态样品的精确定量分析

·不间断电源（UPS）

元素分析仪使用环境

·环境温度 18-28℃（65-82℉）

·相对湿度 ≦75%

·震动度：不可为人体感知

·远离腐蚀性气体、灰尘及微粒

专用计算机系统

·外置专用PC计算机系统，配置分析应用软件

·微软Windows Vista操作系统

·键盘、鼠标

·显示器

·打印机

元素分析仪应用软件包

·基于菜单操作的软件，控制光谱仪的操作和数据分析

·内置应用模型，可用FP法对各类样品进行初步分析

·简单、清晰的流程向导，帮助你建立适合特定样品的分析方法

·AXXIS® XEA FP软件用于定性、定量分析

·匹配扩展的合金库，用于基本参数法（FP）分析

·自动光谱重叠校正

·经验法校准，自动补偿光谱重叠及基体效应

EDXRF技术适用于广泛的元素分析应用

能量色散X射线荧光（EDXRF）是一种常规的分析技术，广泛用于各种样品类型中主要元素及微量元素的半定量和精确定量分析。其广泛的适用性源于：快速、准确、无损的多元素分析；元素分析范围涵盖从钠（Na）至铀（U）；含量分析范围从低的PPM级到高的百分含量（wt%）。 AXXIS® XEA 620 功能多样，可以实现各种类型样品的常规分析。从均匀、低粘性的液态样品，到固态、金属、泥浆、粉末和胶状样品。特别适用于对成分完全未知的样品进行半定量分析。AXXIS® XEA软件强大的分析能力，灵活、方便的使用性，使其在科研、工业及现场监测领域有着广泛的需求。

金属成分分析仪特点：高灵敏度元素分析

分析范围从钠（Na）至铀（U）元素

样品类型：固态、液态、粉末和稀薄样品

独特的谱峰重叠处理技术使误差降低