Global Plus，升级您的测量系统
Global Plus 是面向现代制造企业的通用检测方案。Global Plus 为各种规模的零部件加工和制造企业提供了一种方便、快捷、可靠的几何量计量解决方案。能够及时获取产品几何量计量数据、为高品质的产品制造提供保证。
实用性强
设备配置：
序号 | 说 明 | 名 称 | 规 格 型 号 | |
I. | 主机 | 1 | 主机 | global plus桥式坐标测量机 |
2 | 控制系统 | global plus控制系统 | ||
3 | 工件和光栅的线性温度补偿 | |||
4 | 校验球 | |||
5 | 手册资料 | 用户及系统说明书 (光盘形式) | ||
II. | 计算机系统 | 1 | 计算机 | 计算机系统 (实际发货不低于该配置)：酷睿2.5GHz/1GB内存/160 GB硬盘/256MB显卡/ DVD-RW光驱/17” TFT显示器/ Windows操作系统 |
2 | 打印机 | A4彩色喷墨打印机 | ||
3 | 计算机专用操作桌 | |||
III. | 软件系统 | 1 | 基本软件 | PC-DMIS CAD(数控版) 测量软件 (Windows 操作平台) |
2 | 手册资料 | PC-DMISTM软件手册 (光盘形式) | ||
IV. | 测头系统 | 1 | 测座 | PH10T自动旋转可重复分度测头 |
2 | 测头 | TP20测头组 | ||
3 | 测杆 | KIT7#：03969076探针组 | ||
I. | 培 训 | 测量机应用操作培训 | 供方培训中心 | |
技术特点：
① X向横梁采用超高刚性精密三角梁(Tricision ®)技术，通过减轻运动负荷从而提高了整机的性能，是保证稳定性和刚性的最佳结构设 计；该领先技术受到专利保护。
② 标配机器与工件的线性温度补偿技术。
③ Y轴采用海克斯康获得专利的整体燕尾型导轨，提高了测量机的精度和重复性。
④ 三轴均采用同步带驱动，结构紧凑、不打滑、速度快、噪音低、易维护。
⑤ Z轴采用可调气动平衡，运动平稳；并可在紧急情况下自动制动，保证安全。
⑥ 三轴均采用德国海德汉镀金光栅尺，其热膨胀系数的准确度及均匀性经德国国家标准局(PTB)认证，确保准确稳定的温度补偿 。
⑦ 电机远程放置减少了移动质量，提高了测量机运行速度，也避免了电机发热对测量机性能的影响。
Global Plus 触发型
Global Plus 测量系统采用当今最新测量机设计技术，配置了功能强大的 PC-DMISTM通用测量软件和TESASTAR 测头系统。丰富灵活的配置和良好的服务、培训和保修体系，使得 Global Plus 测量机成为目前最具实用性的测量系统。
全铝合金框架结构，结合线性温度补偿技术，提供了更广泛的适用性。Global Plus 的桥架结构采用了先进的表面阳极化挤压铝合金制造工艺，充分利用了铝合金优异的刚性/密度比和热导率高的特点，显著降低了运动部件的质量，提高了测量的效率。此外，整体一致的材料，结合线性温度补偿技术，保证了机器的精度，并提供了更广泛的适用性。
探测系统TESASTAR-m 自动旋转测座
自动测座，以5°增量进行分度，+180°到-180°进行旋转，+90° 到-115° 进行俯仰，可达到2,952 个空间位置，并包括由于分度座不对称而产生的一个“平齐台面”90° 水平位置。该测座能够快速分度，相对同类产品速度要快。结构牢固，最大可携带300mm 的加长杆；并支持包括TESA 测头在内的多种触发式测头和扫描测头。
TESASTAR-i 手动分度测座
两方向自由度的可重复分度测座，内置高精度触发式测头。每个轴以15°为分度旋转，允许在测量空间的168 个位置进行定位，而不需要重新校准。角度信息可以清晰读取，位置间的分度非常容易，单手就可完成操作；并具备视觉的反馈信号帮助操作者判断测头是否可以进行测量。
Global Plus 行程范围、外型尺寸
型号 | 行程范围(mm) | 外型尺寸(mm) |
06.08.06 | 600×800×600 | 1117×1613×2654 |
06.10.06 | 600×1000×600 | 1117×1813×2674 |
08.10.06 | 800×1000×600 | 1317×1813×2674 |
08.12.06 | 800×1200×600 | 1317×2013×2674 |
10.12.06 | 1000×1200×600 | 1550×2177×2837 |
10.15.08 | 1000×1500×800 | 1550×2477×2837 |
10.21.08 | 1000×2100×800 | 1550×3077×2837 |
Global Plus 扫描型
Global Plus扫描型测量机 - 完成更复杂的测量应用基于其强大的灵活性和模块化的结构，Global Plus 能够通过不同配置满足用户关于尺寸控制的任何需求。新型的LSP-X 系列扫描测头，为高精度和高效率的三坐标测量机提供了专业的扫描探测解决方案。 它既能够提供高精度测头的精密计量工具，又能够和TESASTAR-m 自动分度测座完美匹配。点到点和连续扫描两种模式都能够全面兼容，是各种高精度、复杂形状零部件理想的检测方案。
Global Plus产品特性- 全铝合金框架结构，采用了先进的表面阳极化挤压铝合金制造工艺
- 获得专利的精密三角梁结构，具备良好的刚性，并降低了整机的重心，从而提高了测量的精度和运动稳定性
- 轻质量的外罩减少了整机的重量，从而提高了效率
- 通用测量移动桥式结构，提供更开敞的测量空间
- 采用 Heidenhain 高分辨率金质光栅尺，其热膨胀系数获得官方认证
- Brown & Sharpe，全球著名的桥式测量机品牌，具有178 年精密制造经验
- 每轴均采用空气轴承，完全消除摩擦力和磨损的影响，对灰尘具备不敏感性
- 燕尾式导轨整体加工在花岗石平台上（该技术获得专利），提高了机器的精度和重复性
测量软件：
- 获得PTB全面认证，符合ISO及ANSI标准的公差评判能力；
- 灵活方便的可定制化图形用户界面，简单，易懂的人性化操作方式，中文在线帮助；
- 快速进行测头系统的管理和应用、零件坐标系管理和应用操作、所需几何特征的测量、构造和公差评价；
- 直线度、平面度、圆度、圆柱度、圆錐度以及各种复杂曲面的轮廓度等。位置度的评价：平行度、垂直度、角度、对称度、位置度、同轴度、同心度、轴向跳动、径各跳动、轴向全跳动、径向全跳动；
- 自动识别几何元素特征，并在图形窗口中生成相应图形，动态预览窗口实时显示测量数据；
- 强大的特征构造功能：14类特征的多种构造，包括：投影、相交、镜像、最佳拟合、最佳拟合并重新修正误差、相切、平行、垂直、组合、移动、旋转、偏移线、偏离面和以原点作为构造基准等，灵活解决缺失特征、复杂特征等测量任务；
PC-DMIS 导入CAD数模进行比对测量：
- 全方位的CAD兼容，支持IGES, DXF, DWG, STEP, XYZIGK, STL, DES, VDAF等众多格式的CAD模型;
- 丰富强大的CAD应用功能可同时导入多个CAD图形；可实现基于CAD视模型的零件测量前路径模拟和碰撞检查；
- CAD属性的编辑修改，如CAD图层编辑、原始坐标系的更改、（CAD）特征元素镜像等功能；
- 任意选用曲线、曲面两种模式的CAD特征读取方式，真正实现高效精准的“即点即离”；
- 可图形化夹具、测量机，完全模拟实际工作状态；
- 将检测数据返回到CAD系统中，修正加工，指导生产
高速扫描软件PC DMIS CAD++：
质量标准 - 无可超越
精确的制造技术、全面质量管理，加之以训练有素的技术员工和现代化的生产装备，确保了 Global 的高品质，并在全球范围内得到用户的认可。
Global 行程范围、外型尺寸
型号 | 行程范围(mm) | 外型尺寸(mm) |
05.07.05 | 500×700×500 | 1025×1480×2431 |
07.10.07 | 700×1000×660 | 1250×1910×2696 |
09.12.08 | 900×1200×800 | 1450×2165×2946 |
09.15.08 | 900×1500×800 | 1450×2465×2946 |
09.20.08 | 900×2000×800 | 1450×2965×2946 |
12.15.10 | 1200×1500×1000 | 1838×2880×3431 |
12.22.10 | 1200×2200×1000 | 1838×3580×3406 |
12.30.10 | 1200×3000×1000 | 1838×1757×4380 |
15.22.10 | 1500×2200×1000 | 2138×3645×3405 |
15.30.10 | 1500×3000×1000 | 2138×4445×3430 |
注：同一型号的Classic SR，Performence,Advantage配置，外型尺寸可能略有差别，了解更多内容请索取样本。
软件详细说明请点击这里！
Global Plus 机型环境要求：- 标准环境温度：18 - 22 ºC
- 环境温度变化：1 ºC/h - 2 ºC/24h
- 温度梯度：1 ºC/m
- 相对湿度：25% ~ 75%
- 最小供气压力：5bar
- 耗气量：150 NL/min
扫描与点到点，触发与光学测头，固定与旋转测座，车间和计量室，Global Plus 能够全部包容；基于其强大的灵活性和模块化的结构，Global Plus 能够通过不同配置满足您关于尺寸控制的任何需求。
LSP-X系列高性能三维扫描探测系统
新型的LSP-X系列扫描测头，为高精度和高效率的三坐标测量机提供了专业的扫描探测解决方案。它既能够提供高精度测头的精密计量工具，又能够和TESASTAR-m 自动分度测座完美匹配。点到点和连续扫描两种模式都能够全面兼容，是中等尺寸的楞边复杂型和曲面复杂型工件的理想检测方案
探测系统
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高速扫描测头：（选配）
