半导体缺陷检测系统

半导体缺陷检测系统 为了完全替代传统的人工检测在引脚共面度时由于引脚很小，导致人眼非常容易疲劳，检测效率低下，检测人员的劳动强度大，而且检测结果容易受到检测人员主观因素的影响。而高精度的机器视觉系统在行业是应用极大的解决了这些问题，因此已经被广泛应用于高精度IC外观自动检测中。