10W大功率集成光源
芯片：晶元30MIL
亮度：85-95LM/W
色温：暖白 2900-3000K
正白 5500-6000K
冷白 7000-7500K
串并方式：10串1并
电压：32-34V
电流：320MA
进口正规芯片封装，1.2高品质金线焊接，质保3年。
可找第三方检测机构进行检测，如芯片不对假一赔百。
1.Test Items And Results
（测试项目与结果）
| Test Item （测试项目） | Reference Standard （参考标准） | Test Conditions （测试条件） | Test Hours/cycle (测试时间/周期) | Units Tested (单位) | Ac/Re (允收标准) |
Operation Test （操作测试） | Operating Life Test （寿命实验） | | TA=25℃±5℃，IF=350mA | 1000 Hrs | 22 | 0/22 |
Environment Test （环境测试） | High Temperature Storage （高温储存） | JEITA ED-4701 200 201 | TA=100℃±5℃ | 1000 Hrs | 22 | 0/22 |
Low Temperature Storage （低温测试） | JEITA ED-4701 200 201 | TA=－40℃±5℃ | 1000 Hrs | 22 | 0/22 |
High Temperature.& Humidity Storage 高温高湿储存 | | TA=85℃±5℃， RH=85%±5%RH | 1000 Hrs | 22 | 0/22 |
Thermal Shock (冷热冲击) | JEITA ED-4701 300 307 | -40°±5℃çè+85℃±5℃ 30min dwell / 5 min transfer | 50 Cycles | 22 | 0/22 |
Soldering Test （手工焊接测试） | Solder ability （焊接性） | | 350±5℃，5±1 sec | 1 time Over 95%Wetting | 22 | 0/22 |
Resistance to Soldering Heat （耐焊性） | | 350±5℃，5±1 sec | 1 time | 22 | 0/22 |
2.Failure criteria
（失效标准）
－ Electrical Failures:
（电性失效）
－ VF>±10%（电压值>±5%）
－ IR(VR=5V)>10uA（反向电流>10uA）
－ Light Output Degradation:
（光通量衰减）
－ Flux Degradation% >10% max ;>3% average
（光通量最大衰减>10%；平均衰减>3%）
－ Visual Failures:
（外观不良）
－ Broken or damaged package or lead（包装破损）
－ Solder ability < 95% Wetting（有效焊接面积< 95%）
－ Dimension out of tolerance（尺寸超出公差）
－ Discolor of lens（透镜变色）
■Note：It is required that the LEDs should be attached heat-sink when these LEDs are Operating.
（备注：以上这些是要求在操作LED的过程当中要重视散热的问题）
