产品介绍
AT3-300S机台是一适用于盘装、管装及带装IC的经济型多颗取放式自动烧录系统。系统配备2颗IC取放吸嘴和2组内建烧录/测试单元，藉由优异的控制软体，提供IC烧录/测试、带上打印以及包装转换的多重功能。内建的烧录/测试单元提供高效且稳定的多颗IC并行烧录/测试。系统并提供烧录/测试后带上打印的选择。多种I/O装置可供架设及更换，让系统有极大的弹性，可依IC包装而设定所需的进出料方式。
AT3-300S的作动速度约7.2秒每2颗IC的取放时间，使IC烧录/测试时间小于29秒的烧录/测试作业，达到每小时约1000颗的稳定产能。
主要功能
性能卓越：系统可架设和操作多种不同的进出料装置，以因应Tray、Tube、Tape等不同包装的IC。同一系统即可兼具IC烧录/测试、带上打印以及包装转换3种功能。
智慧型操作：在功能强大的软体控制下，自动化的多颗取放系统可进行一连串的IC进料、吸取、定位、摆放、烧录/测试、分类、打印、出料等一贯化作业。
精准的定位：配备两台定位精准的CCD。一CCD固定于机台上，用于待测IC的定位；另一CCD装置于机器手臂上，用于测试座及其他IC取放点的定位。
可靠的烧录/测试：内建有高速CPU核心控制线路、弹性化的脚位驱动线路与快速USB介面架构的烧录/测试单元，提供高速度、低杂讯、精准且稳定的烧录/测试平台。
多颗并行烧录/测试：烧录/测试模组依烧录/测试时间长短，可提供1、2、4、6或8个测试座。系统可同时烧录/测试多达(8 x模组数)颗IC，用以消除或缩短在烧录/测试高容量记忆IC时可能产生的系统等待时间。
高效产能： AT3-300S产能约为1000UPH，约7.2秒每2颗IC的取放时间，使IC烧录/测试时间小于29秒的烧录/测试作业，达到每小时约1000颗的稳定产能。
打印选择：系统提供在IC烧录/测试后的带上打印的选择，包括打点、打印数字或字母。
容易更换和维护：当更换IC产品时，相对应的烧录/测试模组和进出料装置能够容易且快速的更换。开机时的自动诊断、I/O Mode检测功能和模组化的设计使系统维护、检修与更换更为简便。
超强的软体功能：资料设定与测试结果会自动储存，以备下次开机作业时使用，并借以追踪品质与良率。人性化的操作介面使生产作业更为容易。
