泰思特电子 间接雷测试设备 产品介绍
(a) 泰思特电子科技有限公司生产的间接抗扰度测试设备用于评估设备电源线和内部连接线在经受来自开关切换及自然界雷击所引起高能量瞬变干扰时的性能提供一个共同依据。
(b)增加磁场线圈可以满足IE C61000-4-9
泰思特电子 间接雷测试设备 标准
(1)ANSI C62.41/45
(2)GB/T17626.5
(3)UL1449
(4)IE C61000-4-9
(5)IEC61000-4-5
泰思特电子 间接雷测试设备 优点
(a).正或负自动切换,正负极性可以交替切换。
(b).RS-232通讯接口,可实施远程控制,可以选配测控系统软件。
(c).
试验时智能采集试品击穿电压值,直接LCD显示。
(d).进口电子式主开关,波形稳定,可比性强,寿命长。
(e).浪涌注入相位角度0-360°自由设定。
(f).程控高压电源,电压稳定精度高。
(g).内置电流 电压探头,BNC接连接示波器观测波形(可选配) 。
(h).EMCK3000测量软件保存波形和试验记录(选配)。
(i).内置IEC61000-4-5四种标准试验等级。
泰思特电子科技有限公司(成都办)设有EMC电磁兼容测试实验室,为客户免费做:
1,群脉冲抗扰度测试
2,静电放电抗扰度测试
3,雷击浪涌抗扰度测试
型号 |
SG-5006G |
输出电压 |
0.2~6kV |
输出极性 |
正或负、正负交替 |
输出电压波 |
1.2μs±30%
50μs±20% |
输出电流波 |
8μs±30%
20μs±30% |
输出阻抗 |
2Ω±10% |
输出短路电流 |
0.1~3kA |
浪涌注入相位 |
自由设定0~359° |
触发方式 |
同步/异步自由设置 |
浪涌耦合方式 |
阻容耦合,其中差模时18μF、共模时9μF/10Ω |
输出波形BNC端口 |
10V/10kV或6kV, 10V/5kA或3kA |
智能耦合、去耦网络(选配) |
SGN-20G (三相五线,20A) SGN-5010G(单相三线,20A) |
内置标准等级 |
IEC四种标准试验等级 |