COSMOS-2X荧光X射线膜厚仪技术参数：

    1. X线源：油浸式由上而下垂直照射方式。
    2.检出器：比例计数管。
    3.滤波器：采用Co和Ni双滤波器及数字式滤波器，可单一或同时使用。
    4.准直仪：采用五种孔径一体成型式，可自动切换使用。
    5.样品观测系统：彩色CCD及高画质显示屏。
    6.多能谱分析器：256高频分析器，光谱自动分析。
    7.测量项目：单/多层/无电解镍/合金膜厚成份比/元素光谱峰值测定分析.
    8.测量范围：原子序22 ~ 82，最小量测值0.05um.
    9.测量机能：同一点重复测定机能，输出形式设定，能谱测定.
    10.底材补正功能：当样品与标准片的底材不同时，可作底材补正。
    11.本机俱有自动安全断电系统功能.
    12.由锁匙开关来控制X线输出，以防止外人任意操作.
    13.测量部主机尺寸：362(W) ×425(D) ×521(H)㎜.
    14.测量台尺寸尺寸：170 (W) ×100 (D)㎜
    15.移动量(X-Y-Z轴)：70 ×70 ×80㎜.
    16.使用电源：电压: AC100V/220V ±10V；50/60Hz

COSMOS-2X荧光X射线膜厚仪适合行业：IC业、电镀业、电子业、精密工业、PCB业、装饰业。