Fluke Ti40FT 热成像仪典型应用：
- 预防维护 – 在故障发生之前确定电气和机械问题
- 工业维护 – 检查是否成功完成了维修任务
- 质量控制 – 检测原型并改进热学管理设计
- 流程监测 – 实时观察以确保操作高效安全
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Fluke Ti40FT 热成像仪技术指标 |
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成像性能 |
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热学 |
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视场 (FOV)* |
20 毫米镜头 23 °x 17 °FOV
10.5 毫米镜头 42 °x 32 °
54 毫米镜头 9°x 6° |
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空间分辨率 (IFOV)* |
2.60 mrad |
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最小焦距* |
0.15 米 |
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热敏度 (NETD) |
Ti45: ≤0.08 °C(80 mK)，30 °C 时
Ti40: ≤0.09 °C (90 mK) 30 °C时 |
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探测器数据采集/图像频率* |
30 Hz/60 Hz |
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对焦 |
SmartFocus；一指通连续聚焦 |
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IR 数字缩放 |
Ti45：2 倍 |
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Ti40：- |
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探测器类型 |
160 x 120 焦平面阵列，Vanadium Oxide (VOx) 非制冷微量热型探测器 |
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光谱带 |
8 µm 至 14 µm |
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数字图像增强 |
增强的自动全时成像功能 |
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照相机屏显操作模式 |
Ti45：完全热红外光、完全可见光或热红外光-可见光组合图像。画中画 |
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Ti40：完全热红外光或完全可见光在 SmartView 软件中合并热红外光-可见光图像。画中画 |
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可见光照相机 |
1280 x 1024 像素，全色 |
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可见光数字缩放 |
Ti45：2 倍 |
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Ti40：- | |
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温度测量 |
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校准温度范围 |
Ti45：-20 ˚C 至 600 ˚C，3 量程（-4 ºF 至 1112 ºF）
Ti40：-20 ˚C 至 350 ˚C，2 量程（-4 ºF 至 662 ºF） |
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量程 1 |
Ti45：-20 ˚C 至 100 ˚C（-4 ºF 至 212 ºF） |
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Ti40：-20 ˚C 至 100 ˚C（-4 ºF 至 212 ºF） |
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量程 2 |
Ti45：-20 ˚C 至 350 ˚C（-4 ºF 至 662 ºF） |
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Ti40：-20 ˚C 至 350 ˚C（-4 ºF 至 662 ºF） |
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量程 3 |
Ti45：250 ˚C 至 600 ˚C（-482 ºF 至 1112 ºF） |
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Ti40：- |
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可选 - 高温 |
Ti45：高达 1200 ˚C (2192 ºF)
Ti40：- |
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量程 4 |
Ti45：500 ˚C 至 1200 ˚C（932 ºF 至 2192 ºF） |
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Ti40：- |
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准确度 |
±2°C 或 2 %（取大者） |
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测量模式 |
Ti45：中心点，中心框（区域最小/最大值、平均值），可移动光点/框，用户定义的区域/文本注释，恒温，自动冷、热点检测以及可见彩色超限（上限和下限）警报 |
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Ti40：中心点、中心框（区域最小/最大值、平均值） |
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发射率校正 |
0.1 至 1.0（0.01 增量） | |
联系电话：0755-23015189 15813837537 谢工
