电子元器件温度冲击试验箱
适用于电子、电工产品和其他设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验,也是筛选电子元器件初期故障的最佳助手。
温度冲击试验箱技术规格
型号 | 温度冲击范围:-40~+150 ℃ | 温度冲击范围:-55~+150 ℃ |
LTS-50 | LTS-80 | LTS-150 | LTS-252 | STS-50 | STS-80 | STS-150 | STS-252 | |
■性能 |
试验方式 | 气动风门切换 2 温室或 3 温室方式 |
高温室 | 预热温度范围 | 60 ~ + 200 ℃ |
升温速率 | RT. → + 200 ℃ 约 3 5 分钟 |
低温室 | 预冷温度范围 | -55 ~ -10 ℃ | -65 ~ -10 ℃ |
降温速率 | + 20 → -55 ℃ 约 6 0 分钟 | + 20 →- 65 ℃ 约 7 0 分钟 |
试验室温度范围 | -40 - +150 ℃ | -55 - +150 ℃ |
温度偏差 | ±2 ℃ |
温度恢复时间 | 5 分钟以内 |
恢复条件 | 高温曝露 | 低温曝露 | 高温曝露 | 低温曝露 |
150 ℃: 30 分钟 | - 40 ℃: 30 分钟 | 150 ℃: 30 分钟 | - 55 ℃: 30 分钟 |
※ 1. 温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能; 2. 恢复条件:室温为+ 20 ℃。 |