主要产品参数：

美国泰克（Tektronix） 更超值的功能，更简便的操作！
性能概述：
□ 100MHz带宽，最高采样速率达1GS/s，详细资料请在“技术服务”页面内，技术资料下载中下载；
□ 2个独立通道，8位垂直分辨率；
□ 良好的时基系统；
□ 灵巧的捕获方式；
□ 强大的触发系统，使高级触发功能成为标准配置
□ 完备的测量系统，11种自动测量功能，可选四种参数实时显示；
□ 更多的数学计算功能，标准配置增加FFT算法；
□ 菜单模式的 "AutoSet" 功能，让自动设置也可选，操作更加简便；
□ 可靠的探头校验向导；
□ 多种语种界面支持，多语种上、下文相关帮助；
□ 彩色、单色LCD显示，多种显示模式；
□ 轻巧、便携的物理特性；
□ 良好的安全特性，标准的电磁兼容性。 应用行业 □ 数字、模拟电路设计、；
□ 教学实验室平台；
□ 电力、电子产品制造、测试及维护；
□ 电力、电子产品的品质控制；
□ 技术服务和维修。

输入输出接口模块－TDS2CMAX：
□ 可编程的GPIB（IEEE-488－1987接口），通过接口可控制和设置示波器，进行自动化测量。 □ 可编程RS232接口，通过接口可控制和设置示波器，速度可达19,200bit/s，九针，DTE；标准并行端口（Centronics），用于连接打印机：　
打印机类型－Bubble Jet 、DPU-411、DPU-412、DPU-3445、Thinkjet、Deskjet、 LaserJet和 Epson（9 或 24 针）；　
打印方向－横向或纵向。 □ 包含WaveStarTM试用版应用软件，使用期为30天；
□ 图形格式：TIFF，PCX，BMP，EPS，RLE；

TDS2000与TDS1000系列存储示波器订购信息：
TDS2024、TDS2022、TDS2014、TDS2012、TDS2002、TDS1012、TDS1002主机；

标准附件： 　　
探头：　　
TDS2XX2、TDS1XX2- 2 个P2200，10/1 倍衰减，无源探头；　　
TDS2024、TDS2014- 4 个P2200，10/1 倍衰减，无源探头。　　

国际电源插头标准插头：　　
AC选项－中华人民共和国标准电源插头240V、50Hz（161-0304-00）；　　
－美国标准电源插头120V、60Hz（161-0066-00）；　　
说明书：使用手册（中文简体）、前面板中文标签。　　
可追溯的MIN/NIST校准证书。　　
保修信息：非人为损坏前提下，主机保修期三年，探头保修一年，包括所有人工和部件；

可选附件：　　
TDS2CMA －通讯接口模块，包括用户手册和程序设计手册，不包括I/O线缆。　　
GPIB：1 米(3.3 英尺)-订购号012-0991-01 。　　
GPIB：2 米(6.6 英尺) -订购号 012-0991-00 。　　
RS-232：调制解调器用 9 针插孔至 25 针插头连线、4.6米（15 英尺）订购号（012-1241-00）；　　
RS-232,计算机用 9 针插孔至 9 针插孔零调制解调器连线，订购号 012-1379-00 。　　
RS-232,计算机用9针插孔至25针插孔零调制解调器连线，订购号012-1380-00 。　　
RS-232,打印机用9针插孔至25针插头零调制解调器连线，订购号 012-1298-00 。　　Centronics ：并行打印机接口用25针插头至36针Centronics缆线，2.4 米（8 英尺），订购号012-1214-00。　　
RM2000 －机架安装工具箱。　　
检修手册 －英文版，（071-1076-00）；　　
程序设计手册 －英文版（TDS200 、TDS1000 和TDS2000 系列数字存储示波器）只提供（071-1075-00 ）；　　
操作培训组件 －提供内容广泛的说明和循序渐进的实验练习课程，旨在指导用户学习使用 TDS1000 和TDS2000 系列示波器。这套组件包括一张光盘（里面有用户可自定学习进度的说明书）以及信号源板卡（TNGTDS01）。硬拷贝说明书为选项，需另行订购。　　
AC220 －携带仪器用的软壳箱； 　　
AD007 －GPIB与LAN的转接口；　　
WaveStar™示波器软件 － Windows 95/98/NT 4.0 以上版本应用程序，用于在个人计算机上进行波形捕获、分析、文件编制和控制。　

探头选件：　　
P5205 －1.3 kV，100 MHz 高电压差动探头。　　
P5210 －5.6 kV，50 MHz 高电压差动探头。　　
P5100 －2.5 kV，100x 高电压无源探头。　　
P6015A －1000×AC高压无源探头。
TCP300 －电流测试系统。
TCP400 －电流测试系统。　　
AM503S －电流测试系统。