DDR2×16 一拖八POGO PIN探针结构测试治具

规格：

1、DDR2×16  84 Ball

2、频率F：超过2400Mhz

3、使用于：三星、海力士、华邦、美光等各类内存颗粒

产品特点及性能参数：

◆产品通用性高，只需换颗粒限位框，即可测试尺寸不同的颗粒（宽度≤13MM 长度≤14MM）；

◆产品全新设计，相比以前更薄，预留插槽卡位，不需转接槽可直接插到测试板上进行测试，

把频率衰减降到最低，减少误测；

◆有球无球均可测试，颗粒压板通过使用高精度自适应弹簧保证每个 IC 平衡下压；

◆采用手动翻盖滚轴式结构，操作省力方便，相比同类产品减少磨损，达到更高的使用寿命；

◆采用台湾著名厂家生产的内存颗粒测试专用 PCB，金手指、IC 焊盘镀金层是普通 PCB 的5倍，保证测试治具有更好的导通和耐磨性 ，相比同类产品具有更好的超频性能及使用寿命；

◆采用带定位孔内存颗粒测试专用 PCB，探针板与 PCB 孔定位，保证探针与 PCB 精确定位，如有损坏用户可自行更换维修，简单方便，减少返厂维修，为客户争取宝贵时间；

◆采用超短进口双头探针设计，相比同类测试产品使 IC 与 PCB 之间数据传输距离更短，从而使测试更稳定，频率更高，DDR3 系列频率可达 2000MHZ；

◆探针板采用定位销加螺丝结构，在使用过程中如有探针损坏，客户可自行更换维修，方便

维护，为生产争取宝贵时间；

◆高精度合金 IC 定位框，保证 IC 定位精确，取放 IC 方便，从而提高测试效率；

◆测试寿命长，有效测试 10 万次以上；（视使用环境及相关操作而定）