一、概述
MC-2000A型涂层测厚仪（镀层测厚仪）测量范围：0～1200um，是高新技术的结晶,它采用单片机技术，精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、无校正旋钮、单探头全量程测量、体积小、重量轻；且具有存储、读出、统计、低电压指示、零点校准、两点校准及系统校准，其性能达到当代国际同类仪器的先进水平。