◆ 世界唯一采用低电流(100uA)X射线发生器设计的RoHS检测仪
常规能量色散性萤光光谱仪之X-ray发生器电流为1000uA,而ElvaX发生器电流降至100uA,是同业产品的十分之一),从而提高了X-ray发生器及射线管激发耗损比,延长寿命,节省使用成本。
◆ 世界领先的探测器设计方案
ElvaX为RoHS检测之需求而特别选用的Si-PIN探测器,采用电子制冷,免除了使用液氮制冷方式的检测成本及潜在不稳定性,使用安全可靠;拥有最佳的应用解析度(优于145eV, 5.9keV/Fe55同位素条件下);采用垂直角度探测器设计,使探测器与测试样品形成闭合,大大提高了特征射线面积接收比及接收距离,使元素的成分鉴定及浓度解析精准无误。
◆ 针对RoHS检测特点自主设计之模组高压电源,降低设备重量及体积,提高系统稳定性
ElvaX是世界唯一的针对RoHS检测的特点采用自主设计的模组化高压电源的RoHS检测仪,从而降低了设备重量及体积,由于高压电源针对X射线发生器及光管的配合特点设计,从而大大提高了系统稳定性,提高了系统测试精度。
◆ 内置背景干扰、波峰分离技术,大大提高信噪比,使测量结果更精确
采用ElvaX公司自行开发的背景干扰、波峰分离技术,可以分离检测器难以分离的波峰能谱,去除背景信号干扰,提升信噪比,能谱分析、测量结果更精确。
◆ 可定制不同尺寸样品腔,实现更广范围检测
ElvaX可标配三种不同规格的样品腔:标准型、加大型及8腔自旋型,完全满足从颗料状物质到大型平板式等广泛范围内的样品检测需求。
◆ 优秀的人机对话介面,简单易学,使用方便
ElvaX为RoHS检测特别设计的软体具有亲和的人机对话介面,一键式操作即可完成样品检测,内建多种运算模式,使未知元素的定性及定量分析变得简单快捷。
◆ 可轻松生成各种格式的测量报告
内建报告格式编辑软体,使用者可根据自行需要设定报告格式内容生成范本。测试完毕导出报告时只需选择报告范本格式,软体自动生成完整分析报告,再无需人工整理。测试结果自动存入资料库,可导出至EXCEL格式进行管理。
◆ 可精确检测As、Sb、Se、Ba四种元素
ElvaX另能对As、Sb、Se、Ba四种元素等8大重金属进行定性和定量的分析;
主要技术参数
型号 | ES730 | ES760 | ES790 |
测试范围 | RoHS | RoHS/EN71 | RoHS/EN71/卤素(CL) |
探测范围 | Na(11)~U(92)之广泛范围内的元素含量分析 |
检出下限 | 一般元素检出下限为2.0ppm,合金成份5ppm |
X射线管 | Ti或Rh或W阳极靶,140micro Be窗,风冷 |
X-Ray发生器 | 管压4~50KV(调整间距:0.1KV,管流0~100μA,调整间距:0.2μA),最大5W |
稳定性 | 8小时变化量小于0.1% |
探测器 | Si-PIN,电子扇冷却 |
解析度 | 140eV—175eV |
准直器 | 2,3,5mm |
探测窗 | Be,12μm |
系统尺寸 | 标准型:43cm X 34cm X 20cm 加大型:50cm X 50cm X 38cm |
系统电源 | 110VAC/60HZ 或 220VAC/50HZ |
系统功率 | 50W |
模数转换 | 4096通道,连续逼近,滑行刻度 |
获取时间 | 10—240秒 |
选择配置 | 8微型样品腔自动切换功能,样品定位相机 |
操作软体 | ElvaX控制套装软体,运行于Windows 98,2000,XP or NT(中/英文) |
控制专案 | X---ray 输出,测试参数设定,样品及滤光片选择 |
光谱处理 | 自动顶点搜索,顶点消除,背景消除,自动元素识别 |
定量分析运演算法则 | 基本参数,二次方程式衰减,手动光谱对比 |
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