X-3680A是一种体现X射线荧光分析技术最新进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源，高分辨率数字一体化X-123半导体探测系统，多种准直器与滤波片，再加上我公司专门开发的应用软件，充分发挥各部件的优异性能，保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方，正是它大有作为之处。
其高分辨率数字一体化X-123半导体探测系统，完全保证了符合中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会2008年12月31日发布2009年7月1日实施GB/T 18043--2008最新标准对X射线荧光光谱分析仪：锰元素在5.89keV能量位置的峰，分辨率至少为200eV标准要求。并且其分辨率大大优于“至少为200eV标准要求”。
1.外型尺寸：520mm×465mm×320mm
2.可测试样品大小：关仓测量：330mm×345mm×80mm，开仓测量：无限大
3.仪器重量：50公斤
4.工作环境温度：10—30℃
5.工作环境相对湿度：≤80%
6.元素分析范围：铝（Al）——铀（U）
7.含量分析范围：1PPM——100%
8.测量时间:60秒到180秒可调，一键式快速测量3.5秒可出结果。
9.激发源：自动水制冷系统，低功率X射线管（W靶）
10.高压电源：最大50KV，1mA
11.探测器：美国Amptek原装进口高分辨率全数字一体化X-123探测器系统
12.整机分辨率：锰元素在5.89keV能量位置的峰，分辨率为150±10eV（完全符合并优于中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会2008年12月31日发布2009年7月1日实施GB/T 18043--2008最新标准对X射线荧光光谱分析仪：锰元素在5.89keV能量位置的峰，分辨率至少为200eV标准要求）。
13.进口数字化DP5分析器。
14.工作电源：交流 220V 50Hz
