X-4000采用世界上最新的高分辨率、高计数器、薄窗的高性能硅半导体探测器和新型高速电子电路，使用其分析速度、分析精度较同类仪器有很大提高。还配备了可选的真空或氦光路，特别对轻元素的分析有了本质的改善。  
     #固体、粉末、液体及薄膜等多种样品皆可测试，且样品不破坏   
     #自动谱线识别，让您方便地了解样品的组成   
     #丰富的定量分析软件   
     #测量范围宽，从钠（11）至铀（92）都可测量   
     #测量速度快，通常为几十秒到几分钟   
     #多元素同时定性定量   
     #基于WINDOWS NT/2000/XP的工作软件，使您能简单、方便地完成各项复杂的分析任务   
     #配置真空或充氦光路，使轻元素的分析得到本质性的改善