高压加速寿命试验机
HK-GY-8480
产品用途：
PCT最主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体。
常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等
| 规格: |
试验箱尺寸: 30 x 30 cm (∮* L ) 圆型试验箱 |
全机外尺寸: 84 x 80 x128 cm ( W * D * H ) |
内箱材质:不锈钢板材质# SUS-304制 |
外箱材质:不锈钢板材质# SUS-304制 |
温度范围: +105.00℃ ～+143.00℃(饱和蒸气温度) |
湿度范围: 100 %饱和蒸气湿度 |
压力范围: 0.20 Kg～3.00 Kg / cm*G (安全容量5 Kg / cm*G ) |
时间范围: 000 Hr 00 m～999 Hr 59 m / Step |
加压时间: 0.00 Kg～2.00 Kg / cm*G 约45分内 |
控制系 统: RKC-CB100微电脑饱和蒸气温度/时间LED显示器压力/指针显示表 |
控制对象:微电脑P.I.D自动演算控制饱和蒸气温度 |
圆型内箱:不锈钢圆型试验内箱结构可防止试验中结露滴水设计 |
圆幅内衬:不锈钢圆幅型内衬设计可避免蒸气潜热直接冲击试品 |
精密设计:气密性良好耗水量少每次加水可连续500H运转 |
自动门禁:圆型门自动温度与压力检知安全门禁锁定控制 |
安全保护:临界点LIMIT方式自动安全保护,异常原因与故障排除方法指示灯显示 |
测试架: 3层不锈钢 |
