产品介绍

FOE-603 型光电特性测试综合实验系统可以在一个平台上对半导体发光器件和光电探测器进行特性测试实验，该实验系统采用模块化结构，包括模块（1）电源控制；（2）光电探测器特性测试；（3）光源特性测试；（4）光电倍增管特性测试；（5）雪崩光电二极管特性测试；（6）光谱特性测试。实验系统的光源和探测器可以根据不同的实验进行更换，各模块之间相对独立同时相互联系，可以根据实验需要进行独立模块实验，同时还可以自行设计进行综合实验。整个实验系统共用一只具有四档量程的直流电压表，模块（2）和（3）共用一只具有四档量程的直流电流表，模块（4）和（5）共用一只直流微安电流表。本实验系统可用于理工科高等院校信息工程、光学、物理、计量测试、仪器科学、自动控制等专业开设的光电传感、测量和控制等相关课程的教学实验。实验系统如下图所示。

1、光源特性实验

（1）激光二极管特性参数实验；

（2）发光二极管特性参数实验，包括电特性参数：正向电流、正向电压、反向电流和反向电压，光学参数：发光强度空间分布、平均发光强度、半强度值、光谱功率分布、峰值波长、峰值波长半宽度等；

2、光敏电阻特性实验

实验内容包括：光敏电阻的亮电流、暗电流、亮电阻和暗电阻实验、光敏电阻光谱响应特性实验、光敏电阻光电特性实验、光敏电阻伏安特性实验；

3、光电池特性实验

实验内容包括：光电池光谱响应特性实验、光电池照度－电流电压特性、光电池伏安特性实验、光电池照度－负载特性实验；

4、光电二极管特性实验：

实验内容包括：光电二极管光谱响应特性实验、光电二极管伏安特性实验、光电二极管光照特性实验；

5、光电三极管特性实验：

实验内容包括：光电三极管光谱响应特性实验、光电三极管伏安特性实验、光电三极管光照特性实验；

6、PIN光电二极管：

实验内容包括：PIN光电二极管暗电流特性实验、PIN光电二极管的光照特性实验、PIN光电二极管光谱响应特性实验；

7、光电倍增管特性实验：

实验内容包括：光电倍增管暗电流特性实验、光电倍增管阳极伏安特性实验、光电倍增管光谱响应特性实验；

8、雪崩二极管特性实验：

实验内容包括：雪崩光电二极管暗电流特性实验、雪崩光电二极管增益特性曲线测试实验、雪崩光电二极管光谱响应特性实验；

三、仪器配置

1、FOE-602 型光电特性测试综合实验系统箱。

2、WDG15-Z型光栅单色仪。

3、一维磁性底座、二维磁性底座、三维磁性底座。

4、偏振片组件。

5、各类光电探测器及光源组件。

6、光学实验平台。

7、采集卡。

8、PC机（选购）。

9、数字万用表（自备）。