更多
供应微焦点X射线检测系统检电池/芯片/电路板/玩具等内部缺陷
1台起批
0.00
点此议价
丹东市无损检测设备有限公司
丹东市元宝区金山工业园通河街2号
产品属性
图文详情
品牌推荐
品牌/型号
巨星/CWJ
是否提供加工定制
类型
射线探伤仪
品牌
巨星
型号
CWJ
测量范围
1.适用于BGA、CSP、Flip chip检测PCB板焊接检测。2.短路、开路、空洞、冷焊、IC封装检测。3.电容、电阻等元器件。4.轻质材料的内部结构及组件
分辨率
封闭式:小于5微米;开放式:小于1微米
尺寸
封闭式:7微米/20微米,开放式:小于2微米(mm)
重量
封闭式:15kg;开放式65kg(kg)kg
仪器仪表 > 无损检测仪器 > 探伤仪 >
马可波罗版权所有1999-2020