扫描测头是微型测量仪器，每秒能够采集几百个表面点，可以测量形状、尺寸和位置。扫描测头也可用于采集离散点，与触发式测头类似。
雷尼绍提供了一系列解决方案，供各种尺寸和配置的坐标测量机选用。
触发式测头测量离散的点，是检测三维几何工件的理想选择。
雷尼绍提供品种齐全、具有理想性价比的系统，既可在手动坐标测量机上进行简单的性能检测，也可在数控高速机器上进行复杂轮廓测量。
SP25M SP600 SP80
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| 具有扫描和触发式模块的25 mm直径扫描测头 | | 高性能检测、数字化和轮廓扫描 | | 轴套式安装扫描测头，选用长测针仍能保持最佳的性能 |
TP20 TP200 TP6(A) TP7M OTP6M
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| 具有模块交换功能的超小型机械结构式测头 | | 具有模块交换功能的超小型应变片式测头 | | 具有M8和自动吸附固定选项的坚固机械结构式测头 | | 具有自动吸附的应变片式测头 | | 用于检测软材料的光学触发式测头 |
TP2 TP1S(M)
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PH10机动可重复定位测座 PHS1伺服测座 测座和交换架控制器
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| 可重复定位测座系列 (PH10M、PH10MQ和PH10T) 有轴套式安装和刀柄式安装两种选项 | | 伺服定位测座可实现无级定位 | | 测座、交换架和坐标测量机之间的接口 |
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