EX2自动椭圆偏振测厚仪是基于消光法（或称“零椭偏”）椭偏测量原理，针对纳米薄膜厚度测量领域推出的一款自动测量型教学仪器。

EX2仪器适用于纳米薄膜的厚度测量，以及纳米薄膜的厚度和折射率同时测量。

EX2仪器还可用于同时测量块状材料（如，金属、半导体、介质）的折射率n和消光系数k。

• 经典消光法椭偏测量原理

  仪器采用消光法椭偏测量原理，易于操作者理解和掌握椭偏测量基本原理和过程。

• 方便安全的样品水平放置方式

  采用水平放置样品的方式，方便样品的取放。

• 紧凑的一体化结构

  集成一体化设计，简洁的仪器外形通过USB接口与计算机相连，方便使用。

• 高准确性的激光光源

  采用激光作为探测光波，测量波长准确度高。

• 丰富实用的样品测量功能

  可测量纳米薄膜的膜厚和折射率；块状材料的复折射率、样品反射率、样品透过率。

• 便捷的自动化操作

  仪器软件可自动完成样品测量，并可进行方便的测量数据分析、仪器校准等操作。

• 安全的用户使用权限管理

  软件中设置了用户使用权限（包括：管理员、操作者等模式），便于仪器管理和使用。

• 可扩展的仪器功能

  利用本仪器，可通过适当扩展，完成多项偏振测量实验，如马吕斯定律实验、旋光测量实、旋光等。

EX2适合于教学中单层纳米薄膜的薄膜厚度测量，也可用于测量块状材料的折射率n和消光系数k。

EX2可测量的样品涉及微电子、半导体、集成电路、显示技术、太阳电池、光学薄膜、生命科学、化学、电化学、磁质存储、平板显示、聚合物及金属表面处理等领域。

 注：(1)测量重复性：是指对标准样品上同一点、同一条件下连续测量30次所计算的标准差。

• ISO9001国际质量体系下的仪器质量保证
• 专业的椭偏测量原理课程 
• 专业的仪器使用培训