电池片el测试仪、全自动在线式el缺陷测试仪
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全自动在线式el缺陷测试仪(以下简称EL全测试仪)用于晶体硅的缺陷检测,可与客户的产线配套,实现自动上下料,自动测试,可人工对缺陷进行标记,保存在本地或远端数据库中,PC控制软件可通过以太网接口实现与客户系统对接,传输测试结果和报警信息,并可依据客户需求定制功能。
1、成像系统
成像系统采用采用进口的SONY EXview HAD CCD,有140万、600万可供用户选择,并支持双相机模式。
优秀的成像质量,SONY EXview HAD CCD,成像质量优良,并带有半导体制冷,最低可达-20°C,排除热噪声的影响,使图像质量进一步提升,一体化设计,接口简单,便于维护,CCD相机采用一体化设计,USB接口供电和数据传输,维护简单。
2、运动控制单元
运动控制单元负责整个EL全自动测试仪的流程控制和单个功能模块的手动功能调试。
运动控制单元采集传感器的状态来控制设备的工作流程,同时通过传感器获知各个单元的工作状态,当某个工作单元出现故障时,运动控制单元能够立刻停止当前的操作并保持状态,并通过串口与PC机交互发送和接收命令和上传报警信息。
3、计算机控制系统
(1)计算机配置专业工业控制电脑,稳定性好,中文WindowsXP操作系统。
(2)专用缺陷检测(EL)图像采集处理软件采用专业操作界面,简单明了,
中/英文操作环境,支持手动标记缺陷位置,不同的缺陷具有不同的标记符
号,方便识别,标记结果可与图片一同保存。
(3)数据库管理测试结果,便于检索和查找,并可与客户数据库接口,上传
测试结果。
(4)提供以太网接口,可同客户生产管理系统接口,上传测试图片、设备工
作状态和报警信息。
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CCD相机 | 140万(单/双)、600万(单/双)可选、830万(单/双)可选 | 测试时间 | <40秒 | 测试尺寸 | 2100mm X 1200mm | 分辨率 | 1392x1040(140万) 3032 x 2016(600万) | 可编程电源输出电压 | 0~80V | 可编程电源输出电流 | 0~9.5A | 可编程电源输出功率 | ≤760W | 测试方式 | 无接触式 | 曝光时间 | 0~60秒可调 | 压缩空气 | < 0.8Mpa | 工作温度 | 0~30℃ | 整机工作功率 | <1KW | 工作时间 | 可连续工作12小时以上 | 电源 | 单相220V/50Hz/2kW |
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