太阳能隐裂测试仪
EL140S/D-A、EL600S/D-A、EL830S/D-A
设备名片
太阳能组件缺陷测试仪(以下简称EL全测试仪)用于晶体硅的缺陷检测,可与客户的产线配套,实现自动上下料,自动测试,可人工对缺陷进行标记,保存在本地或远端数据库中,PC控制软件可通过以太网接口实现与客户系统对接,传输测试结果和报警信息,并可依据客户需求定制功能。
设备图片
半自动EL测试仪

全自动EL测试仪

设备组成部件简介:
1、成像系统
成像系统采用采用进口的SONY EXview HAD CCD,有140万、600万可供用户选择,并支持双相机模式。
优秀的成像质量,SONY EXview HAD CCD,成像质量优良,并带有半导体制冷,最低可达-20°C,排除热噪声的影响,使图像质量进一步提升,一体化设计,接口简单,便于维护,CCD相机采用一体化设计,USB接口供电和数据传输,维护简单。
2、运动控制单元
运动控制单元负责整个EL全自动测试仪的流程控制和单个功能模块的手动功能调试。
运动控制单元采集传感器的状态来控制设备的工作流程,同时通过传感器获知各个单元的工作状态,当某个工作单元出现故障时,运动控制单元能够立刻停止当前的操作并保持状态,并通过串口与PC机交互发送和接收命令和上传报警信息。
3、计算机控制系统
(1)计算机配置专业工业控制电脑,稳定性好,中文WindowsXP操作系统。
(2)专用缺陷检测(EL)图像采集处理软件采用专业操作界面,简单明了,
中/英文操作环境,支持手动标记缺陷位置,不同的缺陷具有不同的标记符
号,方便识别,标记结果可与图片一同保存。
(3)数据库管理测试结果,便于检索和查找,并可与客户数据库接口,上传
测试结果。
(4)提供以太网接口,可同客户生产管理系统接口,上传测试图片、设备工
作状态和报警信息。
。
主要技术参数
型号规格 | EL140S/D-A | EL600S/D-A | EL830S/D-A |
有效测试面积 | 1200mmX 2100mm | | |
分辨率 | 1360×1024(单) | 3032*2016(单) | 3358*2536(单) |
2720*1024(双) | 6656*2030(双) | 6716*2536(双) |
测试组件类型 | 单晶、多晶组件 |
相机类型 | 冷却型CCD |
冷却到达温度 | 致冷至室温下 20 °C |
可编程电源输出电压 | 0~80V |
可编程电源输出电流 | 0~9.5A |
电源参数 | 单相220V 10A 最大加载电压80V,最大加载电流 10A |
曝光时间 | 0—60秒可调 |
压缩空气 | 0.8MP |
整机工作功率 | 1KW |
可检测缺陷类似 | 检测太阳能电池组件有无隐裂、碎片、虚焊、断栅及不同转换效率单片电池异常现象 |
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