仪器介绍:
仪器部件及功能:
1、仪器主要组件
组件 | 描述 | 参数 | 备注 |
直流电源 | 电压 | 220V 50/60Hz | 台湾产 |
功率 | 550W |
X高压电源 | 输入电压 | 24V | 美国产 |
总功率 | 50W |
输出电压 | 0-50KV |
输出电流 | 0-2mA |
X光管 | 管电压 | 4-50KV | 美国产 |
管电流 | 0-1mA |
功率 | 50W |
靶材 | Mo(钼)、Rh(铑)(高配微焦钼靶) |
探测器 | 类型 | 硅漂移SDD | 美国产 |
冷却方式 | 电子制冷 |
分辨率 | 125±5eV |
检测面积 | 25mm2 |
Be窗 | 0.5mil(12.7um) |
准直器 | 直径(mm) | 0.2,0.3,0.5,1,4,4mm | 自动切换 |
滤片 | 材料 | Ti,Al, Ni, Mo | |
摄像头 | 分辨率 | 200万像素 | |
控制系统 | 计算机 | 具有USB接口的PC机 | 联想商务机 |
CPU | 双核2.8G | |
内存\硬盘 | 2G\500G | |
控制板 | X光控制,机械动作控制 | 韩国产 |
外形尺寸 | 尺寸 | 618*525*490 | WxDxH |
重量 | 75Kg | |
测试舱 | 平台可移动范围尺寸 | 160 *160* 100mm | |
样品台尺寸 | 250*225mm | |
平台*大负荷 | 5Kg | |
工作距离 | 工作间隙 | 5mm | |
软件 | 操作系统 | windowXP,win7 | |
分析软件 | MultiRay,FP算法 | 韩国/sense |
2、镀层检测:
2.1、常见金属镀层有:
镀层 基体 | Ni | Ni-P | Ti | Cu | Sn | Sn-Pb | Zn | Cr | Au | Zn-Ni | Ag | Pd | Rh |
Al | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
Cu | ● | ● | ● | | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
Zn | ● | ● | ● | ● | ● | ● | | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
Fe | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
SUS | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
2.2、单层厚度范围:
金镀层0-8um,
铬镀层0-15um,
其余一般为0-30um以内,
可*小测量达0.001um。
2.3、多层厚度范围
Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um Ni分析厚度:0-30um
Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um Ni分析厚度:0-30um
Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um Ni分析厚度:0-30um
2.4、镀层层数为1-6层
2.5、镀层精度相对差值一般<5%。
2.6、镀层成分含量:Sn-Pb合金成分分析;Zn-Ni合金成分分析。
2.7、镀层分析优势:分析PCB金手指*小尺寸可达0.2mm
单层分析精度,以Ni举例:(相对差值)
Ni层厚度(um) | 保证精度 |
<1.0um | <5% |
1.0-5.0um | <3% |
5.0-10um | <3% |
10-20um | <3% |
>20.0um | <3% |
3、元素成分分析
3.1 镀液分析,目前常见镀液元素分析有:金、银、锡、铜、镍、铬、锌。
3.2 ROHS 和无卤检测,高性能SDD探测器可以精确检测无卤,实现镀层与环保一机多用。
3.3 金属成分分析,在检测ROHS同时可检测金属中其他各元素成分含量。
3.4 检测精度:
3.4.1、 Cr,Cd,Hg,Cu, Zn, Fe, Ni, Pb, Mn, W, Au, Ag, Sn等重金属
检测限达1ppm。
v 对这些金属测试分析稳定的读取允许差值本仪器已达到下列标准:
A. 检测含量大于5%的元素稳定的测试读取相对差值小于1%
B. 检测含量在0.5~5%的元素稳定的测试读取相对差值小于2%
C. 检测含量在0.1~0.5%的元素稳定的测试读取相对差值小于5%
D. 检测含量低于0.1%的元素测试读取相对差值变化率小于10%
4、自动多点测试
5、报告打印:
可以PDF,Excel格式输出报告,历史数据查询方便
6、安全使用,维护与保养
6.1、由于仪器非常精密,未经允许情况请不要打开仪器外壳,不要对X射线源和探测器进行改变,由用户自身原因造成仪器损坏本公司将不负责任。
6.2、仪器安装一定要平稳,仪器后面离墙距离不得小于30厘米,必须使用标准的220V交流电,电压不稳情况要配备稳压电源,插座必须接地良好,由用户电源不合乎要求造成损失由用户负责。
6.3、请不要用湿的手触摸电源部分,带水的手也不要碰仪器外壳以免发生触电。
6.4、进行测量时,因为高电压流至X射线源,仪器运行时,不要尝试打开或触摸盖子。由于高电压源必须通过自动运行或者遵循用户指南中止。
6.5、仪器环境要求:仪器使用环境需清洁,温度适宜15℃~30℃,湿度≤80%,电源:AC: 220V ±5V。
以上细节均有可能造成无法预测后果,买方应予以基本遵守。
卖方供货范围
数量 | 型号/名称 | 描 述 |
1台 | iEDX-150T测厚仪 | 功能:镀层,RoHS,金属成分 |
1台 | 计算机 | 联想商务机,Windows 7 专业版操作系统; CD-ROM , 20寸液晶显示器;ASCII键盘和鼠标 |
1台 | 打印机 | 喷墨打印机 |
1套 | 附件: | 系统连接电缆 |
1套 | 用户手册 | 书面版 |
| | |
1套 | 包装箱 | |
服务 |
1套 | 指导安装和调试 | 包括 |
1套 | 试车后现场培训 | 包括 |
验收和保证值
本协议中的性能指标所引用的术语及定义都是根据行业标准, 所有误差大都被表示成测量厚度的百分比或者绝对差值. 除特别说明外,所有数据指标都在西格玛的可信状态下。
性能测试所用的标样片都是国际标准的标准样品,在相同的测试点进行测试.这些样本必须受到保护,以免机械或化学的改变,这些将影响到X射线的测量。
性能测试要求环境温度范围在 15~30°C之间。
环境相对湿度 ≤80%
电 源:AC: 220V ±5V
性能主要测试精度和重复性;不能使测厚仪在测量过程中产生“晃动”
4.1测量精度
1)精度(单层):
测厚仪的检测精度表
<
Ni层厚度(um) | 保证精度 |
<1.0um | <5% |
1.0-5.0um | <3% |
5.0-10um | <3% |
10-20um | <3% |
>20.0um | <3% |
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