半自动探针台与测试仪配接后，能自动完成对芯片的电参数测试。

技术性能：

1.         采用高性能计算机，Windows操作系统，动态显示测试过程；

2.         TTL专用接口，IEEE488接口；

3.         MAP图显示、支持大量数据存储；

4.       具有同步打点、延时打点、离线打点功能；

5.         具有编辑、矩阵、环形、圆形等多种自动测试方式；

6.         适合对光敏感器件的遮光测试。

技术指标：

环境要求：

1.       电源：AC 220V±22V   50Hz±1Hz，功率：＜0.8KW，真空：< -80 KPa

2.       使用环境：温度：10ºC-30ºC  湿度：＜60%