老化试验箱|高压加速老化试验箱|PCT高压加速老化试验箱

一．设备简介：

    PCT 高压加速老化试验箱主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。

二．结构特征：

n 本PCT 高压加速老化试验箱采用顶级进口品牌配件；

n 喷塑外观，美观大方，内部镜面不锈钢，做工细节方面可与进口设备媲美；

n 大容量水箱，试验时间长,全自动补水，试验不中断；

n 温度达到设定值后才开始计算产品试验时间,试验过程自动运转至完成结束,之后启

n 动干燥功能,真实的还原产品最终状态；

n 进口“SHIMAX”LED 双数显高精度自能温控器,误差±0.1℃；

n 一体成型硅胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长；

n 电路整合设计，操作简单,维护方便。

三．产品特点：

n 本PCT 高压加速老化试验机独家采用全自动补充水位之功能, 试验永不中断；

n 试验过程的温度、湿度、压力，是真正读取相关传感器的读值来显示的，而不是通过温湿度；

n 的饱和蒸汽压表计算出来的，真正体现了实际的试验参数；

n 干燥设计，试验终止采用电热干燥设计确保测试区(待测品)的干燥，确保稳定性；

n 精准的压力/温度对照显示，完全符合温湿度压力对照表要求；

n LED 数字型定时器，当锅内温度达到设定值后才开始计时以确 保试验完全；

n 开始运转时流水器自动排出未饱和蒸气以达到最佳蒸气质量；

n 高压加速老化试验机内箱压力愈大时, packing 会有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统挤压式完全不同,可延长packing 寿命。

四．技术参数：