德国Metrolux公司成立于1995年，公司专门开发、生产和销售用于全光谱范围内的高质量激光光束分析和光学特性产品，特别是紫光谱范围的产品非常有特色。

光学测量产品：

l   用于激光光束分析的探测器和附件

l   用于光学元件特性描述的探测器

l   用于VUV和EUV的光谱仪、探测器和附件

一、           激光光束质量分析仪

用于测量和分析UV、VIS和NIR波长的激光光束强度分布。

l   节约调整光学器件和谐振器时间

l   过程处理的监控界面友好

l   在线分析和自动文档编制

l   数据被可靠的连接和传输到数据库

l   按照EN-ISO标准可扩展的Beamlux II软件用于光束分析

l   用于触发和同步操作的单脉冲分辨率

l   测量过程的高均匀性和长稳定性

该激光光束分析仪可测量激光强度分布，范围包括EUV，UV，VIS和NIR，光斑直径从1µm - 100 mm，可按EN-ISO标准记录和分析光束。

具有适合于分析光斑和光束位置以及用于均匀激光光束特点描述的各种软件工具，可选附件便于协调脉冲激光器和单脉冲的测量。

机械部分采用特殊表面细化、光学部分采用光学增透膜把杂散光减小到最小的优化探测头。

VIS/NIR激光光束分析仪 UV激光光束分析仪

基于激光光束分析仪的“光束检测”的CCD相机，被优化适合于低输出功率的连续和脉冲激光器准直光束分析，大部分VIS/NIR波长范围的激光，可用此系统典型分析，例如Nd:YAG或者半导体激光器通常使用此系统分析。

光束监测包含Beamlux II软件、标准摄像头及附件如中性密度滤光片组合和可快速建立测量的设备，使用这些可选配件，系统也可用于高功率激光束和焦点直径小于10µm的测量。

交货包含：rail、4.5米电缆、PCI卡、SW/驱动程序光盘、中性密度滤光片组

可选配件：PCMCIA、扩展卡、触发电缆、用于高功率的衰减器、ML8010电机控制器、ML1630激光同步装置

典型测量：光斑大小、发散角、近场、远场、光束稳定性、功率、焦散、均匀性

二、激光聚焦光束分析仪

用于最大激光功率1KW的工业应用，紧凑型探测器，适合激光聚焦分析（ 2 µm）。

l   优化用于工业应用

l   紧凑设计具有高度安全性

l   用于分析直径大于2微米的激光焦点

l   激光功率最大1000W

l   改进的机械结构节约空间

紧凑的测量头由一个CCD传感器、一个集成的衰减器、一个近场透镜和Beamlux Ⅱ高

级分析软件组成。探测器可适用的功率与工作距离有关。

波长的选择取接于近场透镜，以确保激光斑点的测量甚至是大数值孔径和高高脉冲功率密度的测量。

交货包含： 4.5米电缆、PCI卡、SW/驱动程序光盘、中性密度滤光片组、近场物镜

可选配件：PCMCIA、扩展卡、触发电缆、用于高功率的衰减器、ML8010电机控制器、ML1630激光同步装置

典型测量：光斑大小、发散角、近场、远场、光束稳定性、功率、焦散、均匀性