光切法显微镜 9J（上海光学仪器厂 上光新光学）

又称双管显微镜，在不破坏表面的状况下，以光切法测量零件表面的微观不平度、划痕、刻线或缺陷的深度，适用于计量检测机构、精密零件制造和科研等单位，也是经典教学仪器之一。

● 表面粗糙度测量范围：12.5～0.2(光洁度▽3～▽9)

● 不平宽度测量范围：0.7µm～2.5mm/0.01～13mm.

● 不平度测量范围：0.8～80µm

● 物镜：7×,14×,30×,60×,测微目镜分划0.1mm.

● 选配：摄影摄像与图像处理系统,图像分析软件.