EDX-6800型 X荧光分析仪是专为金属材料、黄铜合金及其它合金材料测试行业研制的高性能仪器。除能进行常规Cu、Pb、Fe、Ni、Mn、Zn、Sn、Bi、Sb、As等元素分析外，还实现了低成本、简单快速、准确的分析Al、Si、P、S、Mg等轻元素愿望。

EDX-6800 X荧光分析仪完全满足RoHS/WEEE相关管控要求，符合国际电工委员会IEC62321标准及中国环保标准所规定的技术要求和技术规范。

1．检测样品种类：

（1）不锈钢、低碳钢、生铁、铸铁、铜合金、钢铁合金、铝合金、镁合金、锌合金等。

（2）黄铜类样品：铅黄铜、镍黄铜、锰黄铜、锡黄铜、锡青铜、镍白铜、锌白铜等。

（3）铜矿及铜冶炼过程产品。

2．分析元素：Cu、Pb、Fe、Ni、Mn、Zn、Sn、Bi、Sb、As、Al、Si、P、S、Mg、Ti、V、Cr、Co等元素。

3．对RoHS指令中有害元素（Pb，Cd，Hg，Br，Cr）进行精准测试。

4．金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定。

u 性能特点

1.国际流行的弧线落地式高端外型设计。

2.在60-200秒内同时完成从钠（Na）到铀（U）之间几十种元素的准确快速分析。

3.检测样品为规则样品与不规则样品，包括块状、片状、线状。样品类型为塑胶、金属、粉末、液体。

4.高压电源。最大功率50 W。电压0 -50 KV，电流0-1000uA。8小时稳定性≤0.05%。

5.高效长寿命X光管，指标达到国际先进水平。最大功率50W，管压5-50KV ；管流电流0-1000uA。

6.进口原装电制冷Si-Pin探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比。

7．美国原装前置放大器及放大器等信号处理器：适应高计数率，高抗干扰能力的一体化电子线路。

8. 高真空系统：检测环境可以选择高真空状态，大幅度提高镁铝硅磷硫等轻元素的分析精度。

9.多个准直器和滤光片的电动组合，软体自动切换，满足各种测试方式的应用，降低分析元素附近的背景强度，提高分析最低限。

10.多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制，提高分析准确度。

11.内置高清晰摄像头，有效的实时观察测试区域状况，并拍下物料照片，作为检测报告的组成部分。

12.载物测试平台，可放置大样品。 

13.高效三维散热系统：大幅度提供仪器的可靠性、稳定性。

14．辐射安全系统：隐蔽式设计、软件、硬件三重射线防护系统。

15. 分析软件：国际领先的XRF分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（FP法）、理论α系数法等多种经典分析方法，全面保证测试数据的准确性。

u 技术指标

1.测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）。 
2.元素含量分析范围：ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）。 
3.同时分析元素：一次性可测从钠（Na）到铀（U）之间几十种元素。

4.测量时间：60秒-150秒。

5.样品类型：塑胶、金属、粉末、液体。
6.最低检出下限（ROHS元素）：Cd/Cr/Hg/Br≤2 ppm, Pb≤5 ppm 。

7. 最佳分辨率能达到149eV±5ev。

8．工作环境：温度为温度 15～30℃ 湿度 ≤85% （不结露）。
9.电源：交流220V±5V, 选配高精度参数稳压电源。 
10.样品腔尺寸：Φ180 mm×65mm。

11.外观尺寸：540 mm×660 mm×1040mm。

12.电源：AC 220V～240V、50Hz

13.额定功率：800W

14.重量：约50KG.

u 主体配置

1. 高压电源。

2. 高效薄窗X光管（W或Mo靶）。

3.原装美国高性能电制冷Si-Pin半导体探测器 。

4.高真空系统

5.大样品测量腔

6.光路增强系统

7.高信噪比电子线路系统
8.内置高清晰摄像头 
9.自动切换型准直器和滤光片 
10.三重安全保护模式 
11.弧线落地式立式机柜。

12.计算机：CPU  P4 2.4G ，内存1G（含1G），硬盘300G。19英寸液晶显示器。

13.打印机：激光打印机。

14.分析软件。

15.标准物质：银校正标样等。

16. 仪器的其它配置：样品杯、保险丝