苏一光J2-J激光光学经纬仪的详细介绍

苏一光J2-J激光光学经纬仪

产品应用：

激光是一种方向性、能量十分集中的光辐射，这对于实现测量过程的高精度、方便性及自动化是十分有益的。利用激光这一特性，本产品可用于：可用于较高精度的角度坐标测量和定向准直测量场合，如：大型船舶的制造；中小型水坝坝体位移测量；重型机器的窗身校正，机件变形测量；港口、桥梁工程；大型管道、管线的铺设；隧道、井巷工程；高层建筑、大型塔架；飞机机架安装；天顶方向的垂线测量；水准测量。

产品特点：

本产品是在J2-2光学经纬仪上引入半导体激光器，通过望远镜发射。激光束与望远镜视准轴保持同轴、同焦。因此，本产品除具备光学经纬仪的所有功能外，还提供一条可见的激光束，十分便利于工程施工。由于半导体激光发射器较气体发生器具有使用寿命长、功耗小等优点，使得本产品使用两节AA电池可工作一个工作日。本产品还配置了双弯管目镜，便于使用者观测天顶方向。若不使用激光，本仪器仍可作一般2″光学经纬仪使用。

技术特征：

MiniTest730F5涂层测厚仪  MiniTest730FN1.5涂层测厚仪  MiniTest730FN1.5涂层测厚仪  MiniTest730FN1.5涂层测厚仪  MikroTest NIFE50涂镀层测厚仪  MINITEST740F2涂层测厚仪  MikroTest S10涂镀层测厚仪  MikroTest S10涂镀层测厚仪  自动涂层测厚仪Mikro Tset6   MikroTest S3涂镀层测厚仪  超声涂层测厚仪 QuintSonic   MikroTest S5涂镀层测厚仪  涂镀层测厚仪MIKROTEST-Ni100