合金碳及石墨材料纯度分析和杂质分析测试

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主要应用于各种固体材料体相杂质的直接测量，包括镀层，涂层和薄膜，也就是用于纯度分析和杂质分析

检测面积：40－200平方毫米（消耗50微米厚度的样品）

检测极限：ppb 级别  

检测范围：73种元素

主要适合以下产品：

高纯材料  合金碳及石墨材料半导体材料  （硅）氧化物，碳化物，及陶瓷材料粉末状样品损坏面积：厚度50微米，面积块状样品：大于20mm尺寸不足的样品（粉末颗粒等）增加制样费1000元（因为需要用到7个9的铟）金属样品     rmb  4500半导体样品（si ,GaAs）   rmb 5000非导体(氧化物，碳化物，石墨，陶瓷材料)  rmb  5500如指定元素小于等于25个,费用分别是以上费用的0.8倍。AES(auger)针对导体和半导体表面颗粒的分析小区域污染物的发现和判定材料薄层纵向分布分析原理雷同eds ，只是能量稍小。价格：未知物识别分析 （至少2次全谱分析）  rmb3200元纵向分布分析        rmb  6400

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