IC烧录座 QFN32P测试老化座QFN32 4*4/0.5 0.4MM
| 型号规格 | | |
| | 品 牌： | JRS |
| 型 号： | QFN-p0.4/0.5-(16-104)/（16-88）p
(翻盖式） |
| 封装间距： | QFN 间距为0.4/ 0.5mm均可使用 |
| 适用体积： | 最大尺寸（12*12）mm，最小尺寸(3*3)mm以内的整数正方体规格的IC均可使用，注：没有11*11 |
| PIN脚规格： | 常规 |
| 产品用途： | QFN芯片测试烧录老化 |
| 特 点： | 0.4间距104PIN内.0.5间距88PIN内可使用同一块PCB板，适合人工烧录，降低生产成本 |
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| 物理特性 | | |
| | 弹簧寿命： | 高次数使用(使用破壞性條件測试:每分鈡80次撞打,依不同产品從3万~5万次),。 |
| 阻值特性： | 低阻抗值(初次到最高次数相差在15毫欧内,代表測試過程中接觸穩定,誤測机率降底,品质穩定) |
| 接触件材质： | 日本鈹銅 |
| 绝縁体材质： | PEI&PES |
| 接触件工艺： | 鈹銅沖压.电鍍.裁切.組裝 |
| 制作工艺： | 五金沖压,塑膠成型,半自动与人工組裝 |
| 检测工艺： | 金屬件抽樣做盬水喷霧.高温老化.沾錫宊驗,組裝成品抽樣做破壞性測试(可使用次数),接觸阻抗,耐电压,絕緣阻抗. |
| 氧化标准： | 密封恒温干燥放置360天 |
| 适用温度： | 负65℃—正180℃ |
联系人：何小姐
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