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透射电子显微镜（transmission
electron microscope,TEM）是使电子束穿透所观察的样品，并将透射电子用电磁透镜会聚成像，以观察样品内部结构信息的仪器，简称透射电镜。透射电镜是现代显微技术中分辨率最高，放大倍数最大的一种仪器。
它具有以下特点：①分辨率高，可达0.1nm，能在原子和分子尺度上直接观察材料的结构；②适合于微区、微相的分析，其最小分析区域可达纳米尺度；
③能方便地研究材料内部的相组成和相分布，以及晶体中的位错、层错、晶界等缺陷，是研究材料微观结构的有力手段；
④配备各种附件，透射电镜兼具分析微相、观察图像、鉴定结构、测定成分等多种功能。
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