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PCTT试验箱试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间,用于调查分析何时出现电子元器件,和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验,广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。
型 号 | ZH-PCT-30 | ZH-PCT-40 | 可按要求非标定做 |
内部尺寸W×H×D(mm) | Φ300×D550 | Φ400×D600 |
温度控制 | 升温时间:常温 →+ 132℃55 min 温度范围:100℃→+132℃. (控制点) 温度波动度:±0.5℃. 温度偏差:±2.0℃. |
湿度范围 | 100%R.H饱和蒸汽 |
压力范围 | 0.5~2㎏/㎝2 (控制点) |
升压时间 | 常压 →+ 2㎏/㎝2 60 min. |
湿度均匀度 | ±5.0%. |
控制器 | 进口触摸屏微电脑彩色液晶显示触控式莹幕直接按键型,中英文表示之广视角,高对比功能可程式控制器,具30组程序记忆,每段540Hour59Min,可任意分割设定,并附多组PID控制功能. |
保护装置 | 可调式超温保护 压力超压保护 压力超限第二重保护 温度超限报警保护 缺水保护 |
样品架 | 有承重5kg/层,10kg/层,20kg/层(箱内样品架累计总承载不超过50kg) |

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