出售回收P6330美国泰克P6330差分探头
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P6330差分探头
详细说明 对于高速电路设计人员,可提供宽频带、低负载、低噪声的差分测试方案。小型探头及探头尖附件可以使用户很容易、很方便地探测表面封装器件。 适合于数字集成电路设计(RAMBUS,DDR,IEEE 1394,USB2.0和ATA)、通讯应用(千兆比以太网和光纤通道)以及磁盘驱动器方面宽频带信号的时域和频域测量。技术参数 带宽(仅指探头):3GHz(典型值) 上升时间:140ps130ps(典型值) 衰 减 比:5X 差分输入电容:0.5pF(典型值) 差分输入电阻:100kΩ 差分输入范围:±2V(20℃至30℃) 共模输入范围:±25V(DC+PEAK AC) 共模仰制比:6dB 1MHz时(典型值) 噪 声:近似为35nV根下HZ 接 口:TEKPROBE BNC 电缆长度:1.3米特点和优点 3.0GHz带宽(典型值) 130ps上升时间 低输入电容:0.5pF差分(典型值) 共模仰制比60dB 1MHz(典型值) 小型探头易探测SMD TEKPROBE Ⅱ BNC接口 (可连接到TEKPROBE Ⅱ BNC接口的示波器,使用1103 TEKPROBE电源也可连接到其它示波器的BNC端)应用 通讯(千兆比以太网,光纤通道) 半导体特性分析(RAMBUS,2倍速DRAM,AGP,IEEE 1394,USB2.0,ATA)磁盘驱动器读出磁道