Oxford英国牛津CMI243涂镀层测厚仪

牛津仪器CMI243涂镀层测厚仪专为金属表面处理设计，配置的单探头可以测量铁质底材上几乎所有金属镀层，可在极小以及形状特殊或者表面粗糙的样品上进行测量。CMI243测厚仪采用基于相位的电涡流技术，易于用户控制，其准确性和精密性可同X射线荧光测厚仪相媲美。

 

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牛津CMI243镀层测厚仪的ECP-M探头专为较难测量的金属覆层设计，此单探头可以测量铁质底材上几乎所有金属覆层，例如锌、镍、铜、铬和镉。更小的探针为极小的、形状特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的测量。

 

英国牛津Oxford CMI243涂镀层测厚仪技术规格

测量范围	铁上镀层 镀层厚度范围 电涡流探头 Zn锌 0-38μm(0-1.5mil) ECP-M Ni镍 0-75μm(0-3.0mil) ECP-M Cd镉 0-38μm(0-1.5mil) ECP-M Cr铬 0-38μm(0-1.5mil) ECP-M Cu铜 0-10μm(0-0.4mil) ECP-M 非磁性/Fe 0-1270μm(0-50mil) SMP-1磁感应探头
准确度	相对标准片±5%

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